-
公开(公告)号：CN101932926B
公开(公告)日：2013-07-24
申请号：CN200980000111.X
申请日：2009-01-20
Applicant: 大塚电子株式会社
Inventor： 大久保和明
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/645 , G01J3/0254 , G01J3/0262 , G01N21/276 , G01N2021/6417 , G01N2201/0655
Abstract: 将作为量子效率的测量对象部的试样(OBJ1)以及具有已知的反射率特性的标准体(REF1)分别安装到设置于平面镜(5)的试样窗(2)上。根据在分别安装了试样(OBJ1)以及标准体(REF1)的情况下由光谱仪测量到的各个光谱来测量试样(OBJ1)的量子效率。通过使观测窗(3)的开口面与试样(OBJ1)或者标准体(REF1)的露出面实质上一致，抑制接受激发光(L1)而由试样(OBJ1)产生的荧光以及由试样(OBJ1)反射的激发光(L1)直接入射到观测窗(3)。
-
公开(公告)号：CN110954301B
公开(公告)日：2024-06-28
申请号：CN201910910100.0
申请日：2019-09-25
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01M11/02
Abstract: 本申请涉及测定系统及测定方法。测定系统包括：积分器，具有形成于相互对置的位置的入射窗和试样窗；受光器，通过在离开试样窗规定距离的位置形成的观测窗，测定积分器的照度；挡板，配置于连结积分器内的试样窗和观测窗的光学路径上；以及处理装置，通过处理从受光器输出的测定值来计算出光学特性。入射窗构成为能选择来自配置于积分器的外部的第一光源的光的向积分器内的导入和切断。试样窗构成为能选择性地装接反射率已知的漫反射构件和第二光源。
-
公开(公告)号：CN103575508A
公开(公告)日：2014-02-12
申请号：CN201310030361.6
申请日：2013-01-25
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G02B17/00 , G01J1/0214 , G01J1/04 , G01J1/0407 , G01J1/0425 , G01J3/0218 , G01J3/0254 , G01J3/0262 , G01J3/505 , G01J2001/0481 , G01J2001/4252 , G02B5/08
Abstract: 本发明提供一种光学特性测量装置，包括内壁具有反射面的半球部以及平面部，该平面部被配置成堵塞半球部的开口，在半球部的内壁侧具有反射面。平面部包括第一窗，该第一窗用于在包含半球部的实质的曲率中心的范围内安装光源。半球部和平面部中的至少一方包括多个第二窗，该多个第二窗以具有规定的规则性的方式进行配置，用于从半球部的内部取出光。
-
公开(公告)号：CN103575508B
公开(公告)日：2017-05-24
申请号：CN201310030361.6
申请日：2013-01-25
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G02B17/00 , G01J1/0214 , G01J1/04 , G01J1/0407 , G01J1/0425 , G01J3/0218 , G01J3/0254 , G01J3/0262 , G01J3/505 , G01J2001/0481 , G01J2001/4252 , G02B5/08
Abstract: 本发明提供一种光学特性测量装置，包括内壁具有反射面的半球部以及平面部，该平面部被配置成堵塞半球部的开口，在半球部的内壁侧具有反射面。平面部包括第一窗，该第一窗用于在包含半球部的实质的曲率中心的范围内安装光源。半球部和平面部中的至少一方包括多个第二窗，该多个第二窗以具有规定的规则性的方式进行配置，用于从半球部的内部取出光。
-
公开(公告)号：CN104246456A
公开(公告)日：2014-12-24
申请号：CN201280072460.4
申请日：2012-07-30
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01J1/00
CPC classification number: G01J1/06 , G01J1/0223 , G01J1/0403 , G01J1/0488 , G01J1/4257 , G01J2001/4247
Abstract: 本发明提供一种光学测量装置(1)，包括：中空的圆筒状构件(2)，其在一个平面上具有第一开口(10)，并且在另一平面上具有第二开口(18)；旋转机构(52、54)，其用于使圆筒状构件绕圆筒状构件的中心轴即第一轴线旋转；支承部(20、22)，其用于将光源(30)配置于测量位置，该测量位置在第一轴线上，且该测量位置为所照射的光穿过第一开口而入射到圆筒状构件的内部的位置；第一反射部(12)，其配置在圆筒状构件的内部，用于反射从光源穿过第一开口而入射的光；第二反射部(14)，其用于反射圆筒状构件的内部的光，使该光穿过第二开口而沿第一轴线向圆筒状构件的外部传播；以及至少一个的第三反射部(16)，其用于使第一反射部的反射光入射到第二反射部。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102192832B
公开(公告)日：2014-12-17
申请号：CN201110043621.4
申请日：2011-02-23
Applicant: 大塚电子株式会社
CPC classification number: G01J3/0254 , G01J1/58 , G01J2001/0481 , G01J2001/4247
Abstract: 本发明提供一种光学测量装置(100、200、300)，其包括：内壁上具有漫反射层(1a)的半球部(1)；通过半球部的实际的曲率中心，且配置为封闭半球部的开口部的、在半球部的内表面侧具有反射层的平面部(10)。平面部包括：用于将要在形成于半球部与平面部之间的积分空间内均匀化的光导入该积分空间内的窗(2、4、17)和用于抽出在积分空间内被均匀化了的光的窗(6、18)中的至少一种窗；自平面部与半球部的内壁相接触的最外周起至少占有规定宽度的区域的、由主要产生正反射的第1材质构成的外周部(12)；由与第1材质相比至少在紫外波长区域具有更高的反射率且主要产生漫反射的第2材质构成的、占有外周部的内侧的区域的内周部(14)。
-
公开(公告)号：CN101287974B
公开(公告)日：2010-09-22
申请号：CN200680038368.0
申请日：2006-04-12
Applicant: 大塚电子株式会社
Inventor： 大久保和明
IPC: G01J1/02
CPC classification number: G01J1/42 , G01J1/04 , G01J1/0422 , G01J1/0455 , G01J1/08 , G01J2001/0481 , G01J2001/4247
Abstract: 本发明提供一种光学测量装置，具备：平面镜(3)，其具有作为光入射窗或光源安装部(5)之功能的中央开口部、和可以由光检测器(6)进行测量的观测窗(6’)；和积分半球(2)，其在平面镜(3)的中央开口部内具有曲率半径的中心，且内壁面具有光漫反射面(1)的功能，平面镜(3)和积分半球(2)在内部形成积分空间。
-
公开(公告)号：CN110954301A
公开(公告)日：2020-04-03
申请号：CN201910910100.0
申请日：2019-09-25
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01M11/02
Abstract: 本申请涉及测定系统及测定方法。测定系统包括：积分器，具有形成于相互对置的位置的入射窗和试样窗；受光器，通过在离开试样窗规定距离的位置形成的观测窗，测定积分器的照度；挡板，配置于连结积分器内的试样窗和观测窗的光学路径上；以及处理装置，通过处理从受光器输出的测定值来计算出光学特性。入射窗构成为能选择来自配置于积分器的外部的第一光源的光的向积分器内的导入和切断。试样窗构成为能选择性地装接反射率已知的漫反射构件和第二光源。
-
公开(公告)号：CN104246456B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201280072460.4
申请日：2012-07-30
Applicant: 大塚电子株式会社
IPC: G01J1/00
CPC classification number: G01J1/06 , G01J1/0223 , G01J1/0403 , G01J1/0488 , G01J1/4257 , G01J2001/4247
Abstract: 本发明提供一种光学测量装置(1)，包括：中空的圆筒状构件(2)，其在一个平面上具有第一开口(10)，并且在另一平面上具有第二开口(18)；旋转机构(52、54)，其用于使圆筒状构件绕圆筒状构件的中心轴即第一轴线旋转；支承部(20、22)，其用于将光源(30)配置于测量位置，该测量位置在第一轴线上，且该测量位置为所照射的光穿过第一开口而入射到圆筒状构件的内部的位置；第一反射部(12)，其配置在圆筒状构件的内部，用于反射从光源穿过第一开口而入射的光；第二反射部(14)，其用于反射圆筒状构件的内部的光，使该光穿过第二开口而沿第一轴线向圆筒状构件的外部传播；以及至少一个的第三反射部(16)，其用于使第一反射部的反射光入射到第二反射部。
-
公开(公告)号：CN101932926A
公开(公告)日：2010-12-29
申请号：CN200980000111.X
申请日：2009-01-20
Applicant: 大塚电子株式会社
Inventor： 大久保和明
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/645 , G01J3/0254 , G01J3/0262 , G01N21/276 , G01N2021/6417 , G01N2201/0655
Abstract: 将作为量子效率的测量对象部的试样(OBJ1)以及具有已知的反射率特性的标准体(REF1)分别安装到设置于平面镜(5)的试样窗(2)上。根据在分别安装了试样(OBJ1)以及标准体(REF1)的情况下由光谱仪测量到的各个光谱来测量试样(OBJ1)的量子效率。通过使观测窗(3)的开口面与试样(OBJ1)或者标准体(REF1)的露出面实质上一致，抑制接受激发光(L1)而由试样(OBJ1)产生的荧光以及由试样(OBJ1)反射的激发光(L1)直接入射到观测窗(3)。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
14
records
(took 0.023 seconds)
