发明公开
- 专利标题: 大直径铆接部段圆度控制及测量工艺方法
- 专利标题(英): Circularity control and measuring process method of large-diameter riveting segment
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申请号: CN201210379799.0申请日: 2012-10-09
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公开(公告)号: CN103712545A公开(公告)日: 2014-04-09
- 发明人: 杨烨 , 章茂云 , 王学明 , 刘琦
- 申请人: 首都航天机械公司 , 中国运载火箭技术研究院
- 申请人地址: 北京市丰台区南大红门路1号
- 专利权人: 首都航天机械公司,中国运载火箭技术研究院
- 当前专利权人: 首都航天机械公司,中国运载火箭技术研究院
- 当前专利权人地址: 北京市丰台区南大红门路1号
- 代理机构: 核工业专利中心
- 代理商 高尚梅; 刘昕宇
- 主分类号: G01B5/20
- IPC分类号: G01B5/20 ; G01B5/25
摘要:
本发明属于控制测量方法,具体涉及大直径铆接部段圆度控制及测量工艺方法。它包括:步骤一:计算;步骤二:铆接装配型架结构优化,在铆接装配型架平台上增加定位压紧附件,以保证在上架装配前端框时,对接分离面处两框段齐平,减少铆接应力影响,所述的定位压紧的位置就是步骤一计算得到的位置;步骤三:设置装配定位孔,在前端框象限缺口以及对接处各增加一个定位装配定位孔;步骤四:测量;步骤五:检验。本发明显著的有益效果是:以上技术有效的控制了一级尾段壳体圆度变形,成功的将圆度控制在了总装使用要求的3.5mm范围内。数字化测量:通过现场测试验证及后续研制产品使用,提高测量效率30%以上。测量误差控制在±0.05mm以内。
公开/授权文献
- CN103712545B 大直径铆接部段圆度控制及测量工艺方法 公开/授权日:2016-08-31