发明公开
- 专利标题: 具有SiGe沟道的MOSFET及其形成方法
- 专利标题(英): MOSFET with SiGe channel and forming method of MOSFET
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申请号: CN201410186686.8申请日: 2014-05-05
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公开(公告)号: CN103972105A公开(公告)日: 2014-08-06
- 发明人: 王敬 , 肖磊 , 梁仁荣 , 许军
- 申请人: 清华大学
- 申请人地址: 北京市海淀区100084-82信箱
- 专利权人: 清华大学
- 当前专利权人: 清华大学
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区100084-82信箱
- 代理机构: 北京清亦华知识产权代理事务所
- 代理商 张大威
- 主分类号: H01L21/336
- IPC分类号: H01L21/336 ; H01L21/265 ; H01L29/78 ; H01L29/10
摘要:
本发明提出一种具有SiGe沟道的MOSFET及其形成方法。其中形成方法包括以下步骤:提供顶部具有Si层的衬底;向Si层表层注入含有Ge元素的原子、分子、离子或等离子体,以形成SiGe层;在SiGe层之上形成栅堆叠结构,并在栅堆叠结构两侧形成源和漏。本发明的MOSFET的形成方法能够形成具有SiGe沟道的场效应晶体管,其中SiGe沟道的厚度较薄、晶体质量较好,因此晶体管具有良好的电学性能,且本方法具有简单易行、成本低的优点。
IPC分类: