Invention Publication
- Patent Title: 一种场发射电子源电子束发射性能评测装置及其评测方法
- Patent Title (English): Launching performance evaluation device and evaluation method for electron beam of field emission electron source
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Application No.: CN201410158183.XApplication Date: 2014-04-18
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Publication No.: CN104134604APublication Date: 2014-11-05
- Inventor: 徐军 , 刘亚琪 , 王朋博 , 袁明艺 , 饶先拓 , 陈莉 , 朱瑞
- Applicant: 北京大学
- Applicant Address: 北京市海淀区颐和园路5号
- Assignee: 北京大学
- Current Assignee: 北京大学
- Current Assignee Address: 北京市海淀区颐和园路5号
- Agency: 北京万象新悦知识产权代理事务所
- Agent 王岩
- Main IPC: H01J37/06
- IPC: H01J37/06 ; H01J1/304

Abstract:
本发明公开了一种场发射电子源电子束发射性能评测装置及其评测方法。本发明的评测装置包括:真空腔室、真空抽气系统、真空度测量系统、电子枪组件、电源系统、电子束成像系统、电子束偏转系统和探测与采集系统。本发明在电子束的路径上安装两个垂直方向的偏转磁场,控制电子束从边缘至中心依次扫描通过荧光屏上的小孔,从而获得电子束束斑形状、电子束束斑中心束束流强度、束流密度、角电流密度等、电子束发射稳定度等重要的场发射电子源电子束发射性能定量参数,获得上述电子源电子发射的定量化参数,为评价场发射电子源性能,优化场发射电子源制备工艺,完善场发射电子源制备平台提供定量依据。
Public/Granted literature
- CN104134604B 一种场发射电子源电子束发射性能评测装置及其评测方法 Public/Granted day:2016-10-05
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