- 专利标题: 一种基于JTAG接口的单粒子辐照试验测试系统及方法
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申请号: CN201410706041.2申请日: 2014-11-27
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公开(公告)号: CN104483622B公开(公告)日: 2017-08-25
- 发明人: 陈雷 , 赵元富 , 文治平 , 周婧 , 李学武 , 王硕 , 陈勋 , 孙雷 , 冯长磊 , 王媛媛
- 申请人: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
- 申请人地址: 北京市丰台区东高地四营门北路2号;
- 专利权人: 北京时代民芯科技有限公司,北京微电子技术研究所
- 当前专利权人: 北京时代民芯科技有限公司,北京微电子技术研究所
- 当前专利权人地址: 北京市丰台区东高地四营门北路2号;
- 代理机构: 中国航天科技专利中心
- 代理商 安丽
- 主分类号: G01R31/3181
- IPC分类号: G01R31/3181
摘要:
一种基于JTAG接口的单粒子辐照试验测试系统及方法,该试验系统包括上位机和测试板;测试板包括SRAM,配置PROM,控制处理FPGA与被测FPGA;控制处理FPGA包括串口通信模块、过程控制模块、被测FPGA配置模块,JTAG回读模块及SRAM读写模块;被测FPGA上搭载简单功能;上位机负责流程控制和数据处理;控制处理FPGA负责处理上位机发送的命令并进行单粒子翻转、单粒子功能中断检测等工作。本发明使用控制处理FPGA与被测FPGA的JTAG接口相连,通过JTAG接口实现单粒子翻转检测,系统更加稳定,结果更加可靠,并且可以自动识别被测FPGA的器件型号,自适应不同型号被测FPGA的单粒子辐照试验测试。
公开/授权文献
- CN104483622A 一种基于JTAG接口的单粒子辐照试验测试系统及方法 公开/授权日:2015-04-01