Invention Publication
CN104569155A 一种表面缺陷电磁超声检测方法
失效 - 权利终止
- Patent Title: 一种表面缺陷电磁超声检测方法
- Patent Title (English): Electromagnetic ultrasonic detection method for surface defects
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Application No.: CN201510003638.5Application Date: 2015-01-04
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Publication No.: CN104569155APublication Date: 2015-04-29
- Inventor: 易朋兴 , 张康 , 李亚辉 , 惠冰 , 史铁林
- Applicant: 华中科技大学
- Applicant Address: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- Assignee: 华中科技大学
- Current Assignee: 华中科技大学
- Current Assignee Address: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- Agency: 华中科技大学专利中心
- Agent 曹葆青
- Main IPC: G01N29/04
- IPC: G01N29/04 ; G01B17/00

Abstract:
一种表面缺陷电磁超声检测方法,属于无损检测技术,解决现有电磁超声检测方法中提离距离的变化影响检测准确度的问题。本发明通过改变电磁超声传感器检测探头的提离距离,测量不同提离距离下标准试样的信号,并进行信号处理,得到提离斜率,利用不同缺陷深度下提离斜率与缺陷深度的关系,建立相应的拟合函数;将检测待测缺陷所得到的提离斜率代入所述拟合函数,达到定量检测缺陷的目的。本发明简单易行,与现有的采用峰峰值强度和透射系数定量检测缺陷的方法相比,本发明可以减少检测探头提离距离的影响,而且不用在检测过程中测量相同提离距离下的无缺陷的检测信号。
Public/Granted literature
- CN104569155B 一种表面缺陷电磁超声检测方法 Public/Granted day:2017-04-19
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