发明授权
摘要:
本发明公开了一种蛋壳材料参数无损测试装置及测试方法,该装置中所述蛋壳包含大端和小端,所述蛋壳的小端上安装有上平板,大端的下方安装有下平板,在蛋壳的赤道上沿着经向与纬向交替均匀设有至少两个应变片,每个应变片分别与信号采集系统连接。本发明的一种蛋壳材料参数无损测试装置的测试方法,只是对蛋壳赤道部位上一点进行弹性模量与泊松比的测量,消除了厚度不均匀所带来的影响,得到的测量值更加精确,提高了弹性模量和泊松比与真实值之间的准确性;对蛋壳进行整体压缩测量,无需切割处理,避免了切割所带来的局部误差,保证了蛋壳的完整性,且有利于蛋壳后续力学试验的实施。
公开/授权文献
- CN105136572A 一种蛋壳材料参数无损测试装置及测试方法 公开/授权日:2015-12-09