发明授权
- 专利标题: 半导体器件及半导体器件的制造方法
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申请号: CN201580018706.3申请日: 2015-02-10
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公开(公告)号: CN106165103B公开(公告)日: 2019-07-16
- 发明人: 高谷秀史 , 斋藤顺 , 添野明高 , 山本敏雅 , 副岛成雅
- 申请人: 丰田自动车株式会社 , 株式会社电装
- 申请人地址: 日本爱知县
- 专利权人: 丰田自动车株式会社,株式会社电装
- 当前专利权人: 丰田自动车株式会社,株式会社电装
- 当前专利权人地址: 日本爱知县
- 代理机构: 北京市中咨律师事务所
- 代理商 徐健; 段承恩
- 优先权: 2014-080012 2014.04.09 JP
- 国际申请: PCT/JP2015/053693 2015.02.10
- 国际公布: WO2015/156024 JA 2015.10.15
- 进入国家日期: 2016-10-09
- 主分类号: H01L29/78
- IPC分类号: H01L29/78 ; H01L21/336 ; H01L29/06 ; H01L29/12
摘要:
提供一种能实现更高耐压的半导体器件及其制造方法。所提供的半导体器件具有:p型的第四区,其与栅极沟槽的下端相接;终端沟槽,其在第二区的外侧形成于半导体基板的表面;p型的下端p型区,其与终端沟槽的下端相接;p型的侧面p型区,其与终端沟槽的外周侧的侧面相接,且与下端p型区相连,并在半导体基板的表面露出;p型的多个保护环区,其形成于比侧面p型区靠外周侧处,且在表面露出。
公开/授权文献
- CN106165103A 半导体器件及半导体器件的制造方法 公开/授权日:2016-11-23
IPC分类: