发明公开
- 专利标题: 利用硼磷共掺提高纳米硅材料中的磷掺杂浓度的方法
- 专利标题(英): Method for increasing doping concentration of phosphor in nanometer silicon material through employing boron-phosphor codoping
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申请号: CN201610835042.6申请日: 2016-09-19
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公开(公告)号: CN106384708A公开(公告)日: 2017-02-08
- 发明人: 徐骏 , 李东珂 , 陆鹏 , 李伟 , 翟颖颖 , 陈坤基
- 申请人: 南京大学
- 申请人地址: 江苏省南京市鼓楼区汉口路22号
- 专利权人: 南京大学
- 当前专利权人: 南京大学
- 当前专利权人地址: 江苏省南京市鼓楼区汉口路22号
- 代理机构: 南京瑞弘专利商标事务所
- 代理商 陈建和
- 主分类号: H01L21/02
- IPC分类号: H01L21/02 ; B82Y30/00
摘要:
利用硼磷共掺技术提高纳米硅基薄膜中磷的掺杂浓度效率的方法,步骤如下:1)利用PECVD制备掺杂纳米硅/二氧化硅多层膜材料;2)通过交替进行非晶硅层沉积/原位氧化两个过程,能够获得掺杂纳米硅/二氧化硅(a-Si/SiO2)多层膜材料;控制非晶硅层沉积/原位氧化的时获得a-Si/SiO2多层膜的厚度;3)对制备的a-Si/SiO2多层膜进行脱氢处理;4)脱氢后对进行氮气氛围下的高温退火处理,使多晶硅结晶形成纳米硅,并激活杂质原子进入纳米硅内部,实现纳米硅的掺杂;制备成共掺杂的纳米硅/二氧化硅多层膜。
IPC分类: