发明公开
- 专利标题: 半导体元件以及其制作方法
- 专利标题(英): Semiconductor element and manufacturing method thereof
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申请号: CN201610096054.1申请日: 2016-02-22
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公开(公告)号: CN107104051A公开(公告)日: 2017-08-29
- 发明人: 洪庆文 , 吴家荣 , 李怡慧 , 刘盈成 , 黄志森
- 申请人: 联华电子股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾新竹市新竹科学工业园区
- 专利权人: 联华电子股份有限公司
- 当前专利权人: 联华电子股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾新竹市新竹科学工业园区
- 代理机构: 北京市柳沈律师事务所
- 代理商 陈小雯
- 主分类号: H01L21/336
- IPC分类号: H01L21/336 ; H01L21/265 ; H01L21/768 ; H01L29/78
摘要:
本发明公开一种半导体元件以及其制作方法,其于形成了对应外延层的第一开孔之后再形成对应栅极结构的第二开孔,并第二开孔形成之后进行预先非晶化注入制作工艺以于外延层中形成非晶区,由此避免用以形成第二开孔的制作工艺影响到非晶区的状况。以本发明的制作方法形成的半导体元件包括接触结构设置与合金层。接触结构设置于第二开孔中以与金属栅极电连接,合金层设置于金属栅极上且设置于接触结构与金属栅极之间,且合金层包括金属栅极的材料的合金。
公开/授权文献
- CN107104051B 半导体元件以及其制作方法 公开/授权日:2021-06-29
IPC分类: