- 专利标题: 单晶金刚石材料、单晶金刚石芯片和穿孔工具
- 专利标题(英): Single crystal diamond material, single crystal diamond tip, and drilling tool
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申请号: CN201680006136.0申请日: 2016-07-22
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公开(公告)号: CN107109691A公开(公告)日: 2017-08-29
- 发明人: 西林良树 , 辰巳夏生 , 角谷均 , 植田晓彦 , 小林丰
- 申请人: 住友电气工业株式会社 , 住友电工硬质合金株式会社
- 申请人地址: 日本大阪府大阪市;
- 专利权人: 住友电气工业株式会社,住友电工硬质合金株式会社
- 当前专利权人: 住友电气工业株式会社,住友电工硬质合金株式会社
- 当前专利权人地址: 日本大阪府大阪市;
- 代理机构: 中原信达知识产权代理有限责任公司
- 代理商 王海川; 穆德骏
- 优先权: 2015-145025 20150722 JP
- 国际申请: PCT/JP2016/071603 2016.07.22
- 国际公布: WO2017/014311 JA 2017.01.26
- 进入国家日期: 2017-07-17
- 主分类号: C30B29/04
- IPC分类号: C30B29/04 ; B23B51/00 ; C23C16/27 ; C30B25/20
摘要:
在单晶金刚石材料中,非置换型氮原子的浓度为200ppm以下,置换型氮原子的浓度低于所述非置换型氮原子的浓度,并且所述单晶金刚石材料具有偏角为20°以下的晶体生长主表面。在单晶金刚石芯片中,非置换型氮原子的浓度可以为200ppm以下,置换型氮原子的浓度可以低于所述非置换型氮原子的浓度,并且所述单晶金刚石芯片可以具有偏角为20°以下的主表面。一种穿孔工具,其包含单晶金刚石拉丝模,其中在所述单晶金刚石拉丝模中,非置换型氮原子的浓度为200ppm以下,置换型氮原子的浓度低于所述非置换型氮原子的浓度,并且所述单晶金刚石拉丝模具有由‑5以上且5以下的整数密勒指数表示的低指数面,所述低指数面的垂线相对于拉丝用孔的取向的偏角为20°以下。
公开/授权文献
- CN107109691B 单晶金刚石材料、单晶金刚石芯片和穿孔工具 公开/授权日:2021-05-25
IPC分类: