发明公开
- 专利标题: 半导体芯片的制造方法和用于该制造方法的掩模一体型表面保护带
- 专利标题(英): Method for manufacturing semiconductor chip, and mask-integrated surface protection tape used therein
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申请号: CN201680008788.8申请日: 2016-11-07
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公开(公告)号: CN107210207A公开(公告)日: 2017-09-26
- 发明人: 横井启时 , 内山具朗 , 冈祥文
- 申请人: 古河电气工业株式会社
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 古河电气工业株式会社
- 当前专利权人: 古河电气工业株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京三友知识产权代理有限公司
- 代理商 庞东成; 褚瑶杨
- 优先权: 2015-219736 20151109 JP 2015-219738 20151109 JP
- 国际申请: PCT/JP2016/082983 2016.11.07
- 国际公布: WO2017/082210 JA 2017.05.18
- 进入国家日期: 2017-08-04
- 主分类号: H01L21/301
- IPC分类号: H01L21/301 ; B23K26/351 ; C09J7/02 ; C09J201/00 ; H01L21/304 ; H01L21/52
摘要:
一种半导体芯片的制造方法,其包括下述工序(a)~(d)。(a)在将掩模一体型表面保护带贴合于半导体晶片的图案面侧的状态下,对半导体晶片的背面进行磨削,将晶片固定带贴合于磨削后的背面,利用环形框进行固定的工序;(b)剥离表面保护带而使掩模材料层露出于表面后,使半导体晶片的切割道开口的工序;(c)通过等离子体照射而使半导体晶片单片化为芯片的等离子体切割工序;和(d)通过等离子体照射去除上述掩模材料层的灰化工序。