发明公开
- 专利标题: 衬底处理装置及半导体器件的制造方法
- 专利标题(英): SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD
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申请号: CN201710459088.7申请日: 2017-06-16
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公开(公告)号: CN107863306A公开(公告)日: 2018-03-30
- 发明人: 油谷幸则 , 桧山真 , 竹田刚 , 大桥直史
- 申请人: 株式会社日立国际电气
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 株式会社日立国际电气
- 当前专利权人: 株式会社国际电气
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京市金杜律师事务所
- 代理商 杨宏军; 李文屿
- 优先权: 2016-123516 2016.06.22 JP
- 主分类号: H01L21/67
- IPC分类号: H01L21/67 ; C23C16/54
摘要:
本发明涉及衬底处理装置及半导体器件的制造方法。在将不同的处理进行重复从而对膜进行处理的方法中,存在半导体器件的生产率低的问题。提供一种技术,具有:处理衬底的处理容器,向处理容器供给气体的气体供给部,控制衬底的温度的温度控制部,和装置控制部,其以进行下述处理的方式进行控制:温度控制部将衬底维持在第一温度、并且气体供给部向处理容器供给气体,从而形成第一层的处理;及,温度控制部将衬底维持在不同于第一温度的第二温度、并且气体供给部向处理容器供给气体,从而形成不同于第一层的第二层的处理。通过本发明,即便在将不同的处理进行重复从而对膜进行处理的方法中,也能提高半导体器件的生产率。
公开/授权文献
- CN107863306B 衬底处理装置及半导体器件的制造方法 公开/授权日:2021-08-10
IPC分类: