发明公开
- 专利标题: 蚀刻方法
- 专利标题(英): Etching method
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申请号: CN201610913373.7申请日: 2016-10-20
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公开(公告)号: CN107968045A公开(公告)日: 2018-04-27
- 发明人: 冯立伟 , 王嫈乔 , 林裕杰 , 蔡综颖 , 何建廷
- 申请人: 联华电子股份有限公司 , 福建省晋华集成电路有限公司
- 申请人地址: 中国台湾新竹市新竹科学工业园区
- 专利权人: 联华电子股份有限公司,福建省晋华集成电路有限公司
- 当前专利权人: 联华电子股份有限公司,福建省晋华集成电路有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾新竹市新竹科学工业园区
- 代理机构: 北京市柳沈律师事务所
- 代理商 陈小雯
- 主分类号: H01L21/027
- IPC分类号: H01L21/027
摘要:
本发明公开一种蚀刻方法,包括下列步骤。首先,提供一基底,基底上定义有第一区以及与第一区相邻的第二区。于基底上形成一材料层,并于材料层上形成一图案化掩模。图案化掩模包括一第一部与一第二部。第一部覆盖位于第一区的材料层。第二部对应第二区,且第二部包括一格状结构。格状结构包括多个开口与多个遮蔽部。各开口暴露出的位于第二区的材料层。各遮蔽部位于相邻的开口之间,且各遮蔽部覆盖的位于第二区的材料层。进行一等向性蚀刻,用以移除被开口所暴露的材料层以及被遮蔽部所覆盖的材料层。
公开/授权文献
- CN107968045B 蚀刻方法 公开/授权日:2020-11-10