发明公开
- 专利标题: 一种折射率分布测量的折光计
- 专利标题(英): Refractometer for measuring distribution of refractive indexes
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申请号: CN201710148080.9申请日: 2017-03-14
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公开(公告)号: CN108572160A公开(公告)日: 2018-09-25
- 发明人: 夏珉 , 罗运 , 郭文平 , 陈俊尧 , 李微 , 杨克成
- 申请人: 华中科技大学
- 申请人地址: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 专利权人: 华中科技大学
- 当前专利权人: 华中科技大学
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 代理机构: 华中科技大学专利中心
- 代理商 王世芳; 曹葆青
- 主分类号: G01N21/41
- IPC分类号: G01N21/41
摘要:
本发明公开了一种折射率分布测量的折光计,属于测量与光学领域,其包括光源单元、光路调节单元、探测单元以及图像采集及处理单元,其中,光源单元用于产生平行光,光路调节单元用于根据设定的测量范围调节平行光光束大小,还用于调节平行光光束方向以使光束垂直入射至探测单元,探测单元包括棱镜和透镜阵列,透镜阵列贴合设置在棱镜的一个侧面上,其用于接受来自光路调节单元的平行光束,棱镜的底面贴合于待测对象的界面上,图像采集及处理单元用于接收从棱镜的另一个侧面出射的光斑,还用于对光斑进行图像处理,进而获得待测对象的折射率。本发明装置结构简单紧凑,能对折射率分布进行测量,测量精度较高。
公开/授权文献
- CN108572160B 一种折射率分布测量的折光计 公开/授权日:2020-05-19