- 专利标题: 衬底处理装置、半导体器件的制造方法及存储介质
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申请号: CN201710766303.8申请日: 2017-08-30
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公开(公告)号: CN108630512A公开(公告)日: 2018-10-09
- 发明人: 岛本聪 , 芦原洋司 , 丰田一行 , 大桥直史
- 申请人: 株式会社日立国际电气
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 株式会社日立国际电气
- 当前专利权人: 株式会社国际电气
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京市金杜律师事务所
- 代理商 杨宏军; 李文屿
- 优先权: 2017-055907 2017.03.22 JP
- 主分类号: H01J37/32
- IPC分类号: H01J37/32
摘要:
本发明涉及衬底处理装置、半导体器件的制造方法及存储介质,该技术具有:一频率处理室,设置于处理组件内,并对形成有绝缘膜的衬底进行处理;二频率处理室,在处理组件内与一频率处理室相邻,并对经一频率处理室处理后的衬底进行处理;气体供给部,将至少包含硅和杂质的含硅气体分别供给至一频率处理室和二频率处理室;等离子体生成部,分别连接于一频率处理室和二频率处理室;离子控制部,连接于二频率处理室;衬底搬送部,设置于处理组件内,并在一频率处理室与二频率处理室之间搬送衬底;和控制部,至少对气体供给部、等离子体生成部、离子控制部和衬底搬送部进行控制。
公开/授权文献
- CN108630512B 衬底处理装置、半导体器件的制造方法及存储介质 公开/授权日:2021-06-18