发明授权
- 专利标题: 制备SiC单晶的方法
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申请号: CN201810328146.7申请日: 2018-04-13
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公开(公告)号: CN108728897B公开(公告)日: 2022-03-01
- 发明人: 新谷尚史 , 滨口优 , 山形则男 , 美浓轮武久
- 申请人: 信越化学工业株式会社
- 申请人地址: 日本东京
- 专利权人: 信越化学工业株式会社
- 当前专利权人: 信越化学工业株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京
- 代理机构: 中国贸促会专利商标事务所有限公司
- 代理商 李跃龙
- 优先权: 2017-080250 20170414 JP
- 主分类号: C30B19/04
- IPC分类号: C30B19/04 ; C30B19/12 ; C30B29/36
摘要:
本发明涉及一种制备SiC单晶的方法。通过布置籽晶与在坩埚中的Si‑C熔液接触并使SiC单晶从籽晶生长的熔液法来制备SiC单晶。该方法包括使用构成籽晶的SiC单晶的(0001)或(000‑1)平面作为生长表面进行晶体生长的第一生长步骤和使用得自第一生长步骤的SiC单晶的(1‑100)或(11‑20)平面作为生长表面进行晶体生长的第二生长步骤。获得了高均匀性和品质的SiC单晶,其在贯通螺位错、贯通刃位错、基面位错、微管和堆垛层错方面得到减少。
公开/授权文献
- CN108728897A 制备SiC单晶的方法 公开/授权日:2018-11-02
IPC分类: