本发明公开了一种基于光电传感阵列测量折射率的亚像素位置获取方法，属于测量与光学领域，包括如下步骤：S1取临界角对应的像素位置前后各m个像素，一共为(2m+1)个像素，采集该(2m+1)个像素对应的反射率，以作为拟合数据，S2采用菲涅尔反射率公式，对步骤S1获取的拟合数据进行菲涅尔反射率拟合，得到菲涅尔拟合函数，S3对步骤S2获得的菲涅尔拟合函数求导，导函数的峰值点即为临界角对应的亚像素位置。本发明提供了一种基于光电传感阵列测量折射率的亚像素位置获取方法，其充分利用了阵列器件测量折射率的自动化、快速的特点，同时提高了折射率测量的精度。