- 专利标题: 基于二端口网络的RFID芯片阻抗测量方法及装置
- 专利标题(英): RFID chip impedance measurement method and device based on two-port network
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申请号: CN201811400959.9申请日: 2018-11-22
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公开(公告)号: CN109444547A公开(公告)日: 2019-03-08
- 发明人: 刘科煜 , 杜鹏程 , 陈会军 , 李杰伟 , 李建强 , 张海峰 , 唐晓柯
- 申请人: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼
- 专利权人: 北京智芯微电子科技有限公司,国网信息通信产业集团有限公司
- 当前专利权人: 北京芯可鉴科技有限公司,北京智芯微电子科技有限公司国网信息通信产业集团有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼
- 代理机构: 北京中誉威圣知识产权代理有限公司
- 代理商 孙彦斌; 高清峰
- 主分类号: G01R27/02
- IPC分类号: G01R27/02
摘要:
本发明公开了一种基于二端口网络的RFID芯片阻抗测量方法及装置,RFID芯片阻抗测量方法包括如下步骤:制作二端口微带线电路板,其中,二端口微带线电路板包括直通微带线电路板以及与直通微带线电路板等长度的带被测物的微带线电路板;校准矢量网络分析仪;测试直通微带线电路板的S参数;测试带被测物的微带线电路板的S参数;基于直通微带线电路板的S参数得到针对直通微带线电路板的第一传输矩阵;基于带被测物的微带线电路板的S参数得到针对带被测物的微带线电路板的第二传输矩阵;基于第一传输矩阵以及第二传输矩阵,计算T矩阵;以及基于T矩阵,计算RFID芯片阻抗。本发明的RFID芯片阻抗测量方法的测量结果更精准,且算法相对简单。
公开/授权文献
- CN109444547B 基于二端口网络的RFID芯片阻抗测量方法及装置 公开/授权日:2020-12-15