- 专利标题: 测量方法、测量装置、曝光装置以及物品制造方法
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申请号: CN201811521277.3申请日: 2018-12-13
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公开(公告)号: CN109932870B公开(公告)日: 2021-07-27
- 发明人: 张劬 , 伊藤正裕 , 川端宣幸 , 雨宫靖 , 土井贤 , 黑泽良昭 , 金田崇
- 申请人: 佳能株式会社
- 申请人地址: 日本东京
- 专利权人: 佳能株式会社
- 当前专利权人: 佳能株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京
- 代理机构: 中国贸促会专利商标事务所有限公司
- 代理商 程晨
- 优先权: 2017-242227 20171218 JP
- 主分类号: G03F7/20
- IPC分类号: G03F7/20
摘要:
本公开涉及测量方法、测量装置、曝光装置以及物品制造方法。测量方法具有:第1工序,将把具有多个第1标记的第1图案转印到基板的拍摄区曝光,一边以不产生与相邻拍摄区的重复的方式在行方向以及列方向上分别错开一边进行多次,从而在行方向以及列方向上分别形成多个第1图案;第2工序,将把具有多个第2标记和位于该多个第2标记的周边的多个周边标记的第2图案转印到基板的拍摄区曝光,一边以使相邻拍摄区的一部分区域重复的方式在行方向以及列方向上分别错开一边进行多次,从而在行方向以及列方向上分别形成多个第2图案;以及第3工序,根据转印到基板的第1标记与第2标记的偏离量和一部分区域中的周边标记彼此的偏离量求出畸变。
公开/授权文献
- CN109932870A 测量方法、测量装置、曝光装置以及物品制造方法 公开/授权日:2019-06-25
IPC分类: