发明授权
- 专利标题: 形成磁阻式随机存取存储器单元的方法
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申请号: CN201810579866.0申请日: 2018-06-07
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公开(公告)号: CN110581215B公开(公告)日: 2022-10-28
- 发明人: 洪庆文 , 李昆儒
- 申请人: 联华电子股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾新竹市
- 专利权人: 联华电子股份有限公司
- 当前专利权人: 联华电子股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾新竹市
- 代理机构: 北京市柳沈律师事务所
- 代理商 陈小雯
- 主分类号: H01L43/12
- IPC分类号: H01L43/12
摘要:
本发明公开一种形成磁阻式随机存取存储器单元的方法,包含有下述步骤。首先,形成一第一介电层于一基底上,其中第一介电层包含一第一金属线。接着,形成一图案化第二介电层覆盖第一介电层,其中图案化第二介电层包含一凹槽暴露出第一金属线。接续,形成一阻障层顺应覆盖凹槽以及图案化第二介电层。续之,一金属填满凹槽以及覆盖阻障层。继之,以阻障层为一停止层平坦化金属至暴露出阻障层。后续,形成一磁性隧穿接面以及一顶电极覆盖金属,因而形成一磁阻式随机存取存储器单元。
公开/授权文献
- CN110581215A 形成磁阻式随机存取存储器单元的方法 公开/授权日:2019-12-17
IPC分类: