发明公开
- 专利标题: 具有不同宽度的源极与漏极触点的半导体装置
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申请号: CN201911054212.7申请日: 2019-10-31
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公开(公告)号: CN111129013A公开(公告)日: 2020-05-08
- 发明人: 邱上轩 , 庄惠中 , 杨荣展 , 田丽钧
- 申请人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾新竹市新竹科学工业园区力行六路八号
- 专利权人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 当前专利权人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾新竹市新竹科学工业园区力行六路八号
- 代理机构: 北京律诚同业知识产权代理有限公司
- 代理商 徐金国
- 优先权: 62/753,460 2018.10.31 US
- 主分类号: H01L27/088
- IPC分类号: H01L27/088 ; H01L29/417
摘要:
一种具有不同宽度的源极与漏极触点的半导体装置包括基板中的主动区域。主动区域在第一方向上延伸。半导体装置进一步包括栅极结构,该栅极结构在与第一方向不同的第二方向上延伸。栅极结构跨主动区域延伸。半导体装置进一步包括多个源极/漏极触点,该多个源极/漏极触点在第二方向上延伸并且在栅极结构的相对侧上重叠主动区域中的多个源极/漏极区域。多个源极/漏极触点的第一源极/漏极触点具有第一宽度,并且多个源极/漏极触点的第二源极/漏极触点具有小于第一宽度的第二宽度。
IPC分类: