发明公开
CN111621845A 一种英寸级单晶薄膜的制备方法及单晶薄膜
无效 - 驳回
- 专利标题: 一种英寸级单晶薄膜的制备方法及单晶薄膜
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申请号: CN202010456025.8申请日: 2020-05-26
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公开(公告)号: CN111621845A公开(公告)日: 2020-09-04
- 发明人: 潘孟春 , 彭俊平 , 胡悦国 , 李裴森 , 胡佳飞 , 邱伟成 , 张琦
- 申请人: 中国人民解放军国防科技大学
- 申请人地址: 湖南省长沙市开福区砚瓦池正街47号
- 专利权人: 中国人民解放军国防科技大学
- 当前专利权人: 中国人民解放军国防科技大学
- 当前专利权人地址: 湖南省长沙市开福区砚瓦池正街47号
- 代理机构: 湖南兆弘专利事务所
- 代理商 谭武艺
- 主分类号: C30B23/02
- IPC分类号: C30B23/02 ; C30B29/02 ; C30B29/64 ; C30B33/02
摘要:
本发明公开了一种英寸级单晶薄膜的制备方法及单晶薄膜,本发明制备方法的实施步骤包括:将单晶基片进行预处理,预处理包括清洗、高温灼烧;在预处理后的单晶基片的外延面上沉积铁磁金属薄膜;将沉积有铁磁金属薄膜的单晶基片退火处理得到(111)或(0001)取向的单晶薄膜。单晶薄膜为基于前述制备方法制备得到的单晶薄膜。本发明能够实现英寸级单晶薄膜的制备,制备得到的单晶薄膜在英寸级范围内具有原子级平整度、超高洁净度和单一晶化特征,能够为实现大面积石墨烯生长以及高性能石墨烯自旋电子器件研制提供技术基础。