本发明提供一种多端口射频微波芯片的测试系统，包括：具有载物台、第一台面及第二台面的自动探针台；第一台面位于载物台的上方，中心区域安置直流探针卡；第二台面位于第一台面的上方，探针座安置于第二台面上；自动探针台和探针座由伺服电机驱动，可以分别进行X-Y-Z方向的三维移动；PXI-e多功能测试平台，给直流探针卡提供测试信号实现对待测芯片的直流特性测试及监测；四端口矢量网络分析仪，给射频探针提供测试信号实现对待测芯片的射频特性测试。本发明的多端口射频微波芯片的测试系统结构简单、测试参数覆盖性高、测试效率高、测试精度高、成本低、测试灵活性高。