发明公开
- 专利标题: 一种光刻胶颗粒度测试装置
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申请号: CN202011573333.5申请日: 2020-12-24
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公开(公告)号: CN112611692A公开(公告)日: 2021-04-06
- 发明人: 顾大公 , 陈玲 , 马新龙 , 许东升 , 许鹏 , 陈阳 , 胡海斌 , 毛智彪 , 许从应
- 申请人: 宁波南大光电材料有限公司
- 申请人地址: 浙江省宁波市北仑区柴桥街道青山路21号
- 专利权人: 宁波南大光电材料有限公司
- 当前专利权人: 宁波南大光电材料有限公司
- 当前专利权人地址: 浙江省宁波市北仑区柴桥街道青山路21号
- 代理机构: 深圳盛德大业知识产权代理事务所
- 代理商 贾振勇
- 主分类号: G01N15/02
- IPC分类号: G01N15/02
摘要:
本发明适用于光刻胶测试技术领域,提供了一种光刻胶颗粒度测试装置,包括,高位槽,与光刻胶生产线连接用于存储待测光刻胶;颗粒仪,用于测量待测光刻胶的颗粒度;高位槽底部设有进料口;高位槽的侧下方设有出料口;颗粒仪的出口端还设有流量计。本实施例的光刻胶颗粒度测试装置,通过高位槽中待测光刻胶自身重力和出口端的流量计同时作用,使待测光刻胶以稳定的流速进入颗粒仪,简化了操作,提高了测试精度。解决了光刻胶颗粒度测试时,因流量不稳导致仪器容易报错的问题;并且相对于现有在进口端通过阀门需要实时调节的方法,简化了操作,可重复操作性高,并大大缩短了光刻胶产品生产时颗粒度检测的时间,提升了数据可靠性和重复性。