发明公开
CN112666620A 辐射扫描检查设备
审中-实审
- 专利标题: 辐射扫描检查设备
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申请号: CN201910981856.4申请日: 2019-10-16
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公开(公告)号: CN112666620A公开(公告)日: 2021-04-16
- 发明人: 宋全伟 , 孙尚民 , 郭以伟 , 樊旭平 , 史俊平 , 何远 , 孟辉 , 宗春光 , 胡煜
- 申请人: 同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 专利权人: 同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人: 同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 代理机构: 中国贸促会专利商标事务所有限公司
- 代理商 艾春慧
- 主分类号: G01V5/00
- IPC分类号: G01V5/00 ; G01N23/04 ; G01N23/203 ; B60B33/04
摘要:
本发明公开一种辐射扫描检查设备,包括:辐射检查装置,包括刚性的门型构架,门型构架包括横向部和分别连接于横向部左右两端的第一纵向部和第二纵向部;行走装置,设于辐射检查装置底部,包括第一轮组件、第二轮组件、第三轮组件和第四轮组件,各轮组件包括轮座和可转动地安装于轮座上的行走轮,第一轮组件的轮座和第二轮组件的轮座分别固定安装于第一纵向部前后两端,第三轮组件的轮座和第四轮组件的轮座的分别与第二纵向部的前后两端铰接;和均衡梁,前后两端分别与第三轮组件的轮座和第四轮组件的轮座铰接。该辐射扫描检查设备在地面上行走时稳定性高。