一种钝化接触结构制备方法和具有钝化接触结构的晶体硅
Abstract:
一种钝化接触结构制备方法,在晶体硅上形成SiOx/AlOx/p‑poly的三层式钝化接触结构,包括:S1:对晶体硅片进行预处理;S2:在预处理后的晶体硅片表面制备AlOx薄膜;S3:在制备完AlOx薄膜的晶体硅片表面再制备非晶硅薄膜,非晶硅薄膜为本征非晶硅薄膜或掺硼非晶硅薄膜;S4:对本征非晶硅薄膜进行硼掺杂处理,本征非晶硅薄膜形成p‑poly层,借助硼掺杂处理中的退火过程,通入过量氧气,在AlOx薄膜下方的晶体硅上形成一层致密SiOx层;或对掺硼非晶硅薄膜进行退火处理,掺硼非晶硅薄膜形成p‑poly层,借助退火过程,通入过量氧气,在AlOx薄膜下方的晶体硅上形成一层致密SiOx层;S5:清洗BSG。按本发明钝化接触结构制备方法,可省去单独制备SiOx层的工序,且带负电荷AlOx薄膜的存在可增强p‑poly硅的载流子选择性,从而增强钝化效果。
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