Invention Publication
- Patent Title: 一种钝化接触结构制备方法和具有钝化接触结构的晶体硅
-
Application No.: CN202110130675.8Application Date: 2021-01-29
-
Publication No.: CN112768565APublication Date: 2021-05-07
- Inventor: 杜哲仁 , 赵影文 , 杨俊楠 , 张志郢 , 季根华
- Applicant: 泰州中来光电科技有限公司
- Applicant Address: 江苏省泰州市姜堰经济开发区开阳路
- Assignee: 泰州中来光电科技有限公司
- Current Assignee: 泰州中来光电科技有限公司
- Current Assignee Address: 江苏省泰州市姜堰经济开发区开阳路
- Agency: 北京金之桥知识产权代理有限公司
- Agent 袁芳; 耿璐璐
- Main IPC: H01L31/18
- IPC: H01L31/18 ; H01L31/0224 ; H01L31/0216 ; H01L31/068
Abstract:
一种钝化接触结构制备方法,在晶体硅上形成SiOx/AlOx/p‑poly的三层式钝化接触结构,包括:S1:对晶体硅片进行预处理;S2:在预处理后的晶体硅片表面制备AlOx薄膜;S3:在制备完AlOx薄膜的晶体硅片表面再制备非晶硅薄膜,非晶硅薄膜为本征非晶硅薄膜或掺硼非晶硅薄膜;S4:对本征非晶硅薄膜进行硼掺杂处理,本征非晶硅薄膜形成p‑poly层,借助硼掺杂处理中的退火过程,通入过量氧气,在AlOx薄膜下方的晶体硅上形成一层致密SiOx层;或对掺硼非晶硅薄膜进行退火处理,掺硼非晶硅薄膜形成p‑poly层,借助退火过程,通入过量氧气,在AlOx薄膜下方的晶体硅上形成一层致密SiOx层;S5:清洗BSG。按本发明钝化接触结构制备方法,可省去单独制备SiOx层的工序,且带负电荷AlOx薄膜的存在可增强p‑poly硅的载流子选择性,从而增强钝化效果。
Public/Granted literature
- CN112768565B 一种钝化接触结构制备方法和具有钝化接触结构的晶体硅 Public/Granted day:2022-10-04
Information query
IPC分类: