发明公开
- 专利标题： 四端对交流电阻计量样品的非对称屏蔽结构
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申请号： CN202210009597.0申请日： 2022-01-06
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公开(公告)号： CN114325007A公开(公告)日： 2022-04-12
- 发明人: 蔡建臻 , 黄晓钉 , 潘攀 , 王书强
- 申请人： 北京东方计量测试研究所
- 申请人地址： 北京市海淀区知春路82号1001室
- 专利权人： 北京东方计量测试研究所
- 当前专利权人： 北京东方计量测试研究所
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区知春路82号1001室
- 代理机构： 北京谨诚君睿知识产权代理事务所
- 代理商 延慧; 武丽荣
- 主分类号： G01R1/18
- IPC分类号： G01R1/18
摘要：
本发明涉及一种四端对交流电阻计量样品的非对称屏蔽结构，包括底座(1)和上盖(2)，所述底座(1)包括层叠的第一、第二屏蔽板(11,12)，第二屏蔽板(12)中部设有样品槽(121)，所述上盖(2)扣合在所述样品槽(121)处。本发明可实现对交流电阻样品的全封闭屏蔽。
公开/授权文献
- CN114325007B 四端对交流电阻计量样品的非对称屏蔽结构 公开/授权日：2023-03-17