Invention Publication
- Patent Title: 光测距装置
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Application No.: CN202080062487.XApplication Date: 2020-08-31
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Publication No.: CN114341664APublication Date: 2022-04-12
- Inventor: 植野晶文 , 柏田真司 , 水野文明
- Applicant: 株式会社电装
- Applicant Address: 日本爱知县
- Assignee: 株式会社电装
- Current Assignee: 株式会社电装
- Current Assignee Address: 日本爱知县
- Agency: 北京集佳知识产权代理有限公司
- Agent 邰琳琳
- Priority: 2019-161004 20190904 JP 2020-139972 20200821 JP
- International Application: PCT/JP2020/032882 2020.08.31
- International Announcement: WO2021/045003 JA 2021.03.11
- Date entered country: 2022-03-04
- Main IPC: G01S7/481
- IPC: G01S7/481 ; G01S7/497 ; G01S17/08

Abstract:
光测距装置(200)具备:发光部(40),其射出激光(DL);扫描部(50),其对从发光部射出的激光进行扫描;受光部(60),其接受入射光;旋转角度传感器(54),其检测扫描部的旋转角度;以及控制装置,其是获取旋转角度并向发光部输出驱动信号的控制装置(100),使用至少利用从上述旋转角度的获取时刻到激光的射出时刻为止的射出延迟期间而决定的校正值,执行上述激光的射出定时的校正、和使用从接受到上述激光的上述受光部输出的受光信号而生成的距离数据的检测角度的校正中的任意一方的校正控制。
Public/Granted literature
- CN114341664B 光测距装置 Public/Granted day:2025-02-11
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