发明公开
- 专利标题: 增强型氮化镓器件位移损伤效应的测试方法及系统
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申请号: CN202210252228.4申请日: 2022-03-15
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公开(公告)号: CN114624561A公开(公告)日: 2022-06-14
- 发明人: 郭红霞 , 白如雪 , 张鸿 , 张凤祁 , 胡嘉文 , 刘益维 , 钟向丽 , 欧阳晓平
- 申请人: 湘潭大学
- 申请人地址: 湖南省湘潭市雨湖区羊牯塘27号
- 专利权人: 湘潭大学
- 当前专利权人: 湘潭大学
- 当前专利权人地址: 湖南省湘潭市雨湖区羊牯塘27号
- 代理机构: 北京中政联科专利代理事务所
- 代理商 陈超
- 主分类号: G01R31/26
- IPC分类号: G01R31/26 ; G01N23/2255 ; G01N23/2202
摘要:
本发明公开了一种增强型氮化镓器件位移损伤效应的测试方法及系统,该方法包括:将待测器件进行分组编号,得到增强型氮化镓器件组和耗尽型氮化镓器件组;将增强型氮化镓器件组和耗尽型氮化镓器件组进行电学性能测试,并记录第一测试结果;将增强型氮化镓器件组和耗尽型氮化镓器件组进行质子辐照;将质子辐照后的增强型氮化镓器件组和耗尽型氮化镓器件组进行电学性能测试,并记录第二测试结果;基于增强型氮化镓器件组的第二测试结果和第一测试结果的比较分析,得到第一比较结果;基于耗尽型氮化镓器件组的第二测试结果和第一测试结果的比较分析,得到第二比较结果;基于第一比较结果和第二比较结果确定待测器件对位移损伤效应电荷收集的敏感区域。