公开(公告)号：CN118294749A

公开(公告)日：2024-07-05

申请号：CN202410713295.0

申请日：2024-06-04

申请人： 西湖大学

发明人： 刘国磊 ,  朱博文

IPC分类号： G01R31/00 ,  G01N23/2251 ,  G01N23/2255 ,  G01N23/04

摘要： 本发明提供了一种金属氧化物忆阻器导电通路的定位提取表征方法，分别制备多种浓度的有机物溶液；清洗衬底后吹干；用溶液法在顶电极上旋涂有机物溶液后进行烘干；使用探针测试旋涂完有机物溶液的金属氧化物忆阻器；使用一定的限流电流进行测试后，观察导电通路位置的显示情况；换用其他浓度的有机物溶液及其他大小的限流电流后，重复上述操作直至清晰显示导电通路位置。本发明通过旋涂有机物溶液，利用电学测试过程产生的焦耳热，蒸发导电通路所在位置的有机物溶液，从而显示导电通路位置后，在FIB下进行截面提取并利用TEM表征导电通路的信息。本发明在不破坏原有器件的基础上实现导电通路的定位、提取及表征，具有方便、快捷、低成本的优点。

公开(公告)号：CN116400154A

公开(公告)日：2023-07-07

申请号：CN202310263816.2

申请日：2023-03-17

申请人： 清华大学

发明人： 吴华强 ,  孙雯 ,  高滨 ,  唐建石

IPC分类号： G01R31/00 ,  G01R19/00 ,  G01N23/2255 ,  G01N23/20

摘要： 本申请公开了获取阻变器件导电通道分布的方法，该方法包括提供阻变器件，该器件具有多个阵列排布的阻变器件单元；调控阻变器件的外界电压，剥离第一阵列电极层和/或第二阵列电极层暴露阻变层，获得不同阻态的待测阻变器件单元；扫描不同阻态的待测阻变器件单元的阻变层的表面信息，以获得不同阻态的待测阻变器件单元的电流分布；对阻变层进行平面取样，获得待测平面；令待测平面沿轴向旋转，扫描待测平面多个不同角度的结构信，对结构信息二维数据集进行三维重构，获得不同阻态的待测阻变器件单元的微观结构三维分布。由此，可以获得阵列级别阻变器件导电通道的电流分布与导电通道的微观结构的三维分布之间的对应关系。

公开(公告)号：CN115524355A

公开(公告)日：2022-12-27

申请号：CN202211104281.6

申请日：2022-09-09

申请人： 哈尔滨工业大学(深圳)

发明人： 刘徐昊 ,  严资林 ,  仲政

IPC分类号： G01N23/2251 ,  G01N23/2255 ,  G01N23/2202 ,  G06F30/27 ,  G06K9/62

摘要： 本发明公开了一种任意双相多孔复合材料宏观性能的预测方法，通过双相多孔复合材料样本的微观结构和宏观性能构成样本数据集；将所述样本数据集输入卷积神经网络进行训练，得到训练后的卷积神经网络；将待测双相多孔复合材料的微观结构三维图像和对应组分的材料性能的理论值输入训练后的卷积神经网络中，神经网络可快速预测得到待测双相多孔复合材料的宏观性能。利用构建卷积神经网络预测任意双相多孔复合材料的宏观性能，解决了传统卷积神经网络只能预测一种特定材料宏观性能的问题。

公开(公告)号：CN114166882A

公开(公告)日：2022-03-11

申请号：CN202111275620.2

申请日：2021-10-29

申请人： 山东大齐通信电子有限公司

发明人： 杨学亮 ,  宋志勇 ,  门雪松 ,  徐春颖 ,  舒正义 ,  胡耀鹏 ,  夏增极 ,  刘同宝 ,  满俊材

IPC分类号： G01N23/2255

摘要： 本发明公开了一种高速重离子皮带探伤系统及方法，该系统包括：多条运输线，每条运输线均设置皮带，皮带上方设置重离子加速器和光谱测量仪，所述重离子加速器用于将低能离子在加速传输通道的逐级加速后得到高速重离子输入至光谱测量仪，所述光谱测量仪和电荷分析装置相连，所述光谱测量仪用于测量高速重离子撞击皮带煤质后激发离子反射的光谱输入至电荷分析装置，所述电荷分析装置用于分析光谱，输出离子光谱强度，所述电荷分析装置和用户终端相连，用户终端用于判断离子光谱强度是否小于预设值，若小于预设值，则皮带出现损伤。

公开(公告)号：CN113406472A

公开(公告)日：2021-09-17

申请号：CN202110532370.X

申请日：2021-05-17

申请人： 世强先进(深圳)科技股份有限公司

发明人： 潘柏良

IPC分类号： G01R31/28 ,  G01N23/04 ,  G01N23/20 ,  G01N23/2255

摘要： 本发明涉及一种发光芯片失效原因背面分析方法。该方法包括：S10、研磨抛光N电极上与光波导对应位置的金属陶瓷层，使光波导对应位置的N电极裸露；S20、在N电极上设置测试连接点，且测试连接点位于光波导在N电极的对应区域之外；S30、供电电路的正极连接P电极上的键合金属线，供电电路的负极连接测试连接点，供电电路提供供电电压以使发光芯片发光；S40、使用光检测设备检测发光芯片背面发出的光，根据获取光确定发光芯片的失效区域。本发明解决了光芯片表面覆盖金属层导致失效现象无法显现的问题，提高光芯片失效分析的准确率。

公开(公告)号：CN112666198A

公开(公告)日：2021-04-16

申请号：CN202010983847.1

申请日：2020-09-17

申请人： 卡尔蔡司显微镜有限责任公司

发明人： G.帕维亚 ,  D.唐豪瑟

IPC分类号： G01N23/225 ,  G01N23/2251 ,  G01N23/2255 ,  H01J37/26 ,  H01J37/28

摘要： 本文描述的发明涉及一种用于对物体进行分析、成像和/或处理的方法。而且，本文描述的发明涉及一种用于执行该方法的粒子束装置。该方法包括：在物体的区域上布置材料层，使用第一粒子束来生成材料层的第一图像，使用激光束和/或第二粒子束并且通过相对于这些部分层在移动方向上相对移动激光束和/或第二粒子束来烧蚀材料层的部分层，当烧蚀材料层的部分层时以如下方式调整激光束和/或第二粒子束的相对移动：材料层的第一部分层的第一厚度与材料层的第二部分层的第二厚度相同，并且在材料层已经被部分或完全烧蚀之后，使用第一粒子束来生成物体的区域的至少第二图像。

公开(公告)号：CN107607570B

公开(公告)日：2021-03-09

申请号：CN201710773405.2

申请日：2017-08-31

申请人： 武汉钢铁有限公司

发明人： 王志奋 ,  周元贵 ,  邓照军 ,  彭周 ,  欧阳珉路 ,  王俊霖 ,  马家艳 ,  张彦文 ,  洪梦庆 ,  韩荣东

IPC分类号： G01N23/2251 ,  G01N23/2255 ,  G01N23/2202 ,  G01N23/203 ,  G01N23/2208

摘要： 本发明公开了一种镀锌板表面缺陷原位分析方法，属于镀锌板表面质量分析方法技术领域。该方法包括如下步骤：1)镀锌板试样的预处理；2)镀锌板试样表面缺陷区域的原位切割；3)镀锌板试样表面缺陷区域切割截面的显微形貌的观察和分析；该分析方法采用直接在缺陷区域进行原位截面制样，采用聚焦离子束扫描电子显微镜双束系统对镀锌板表面缺陷部位进行纳米尺度精密加工，并结合扫描电子显微镜、电子背散射衍射、能谱仪等分析手段进行实时观察，可分析镀锌板表面缺陷的各种类型和形成原因。

公开(公告)号：CN110174428B

公开(公告)日：2020-04-07

申请号：CN201910541346.5

申请日：2019-06-21

申请人： 中国科学院地质与地球物理研究所

发明人： 刘家龙 ,  杨继进 ,  张玉星

IPC分类号： G01N23/2255 ,  G01N23/2202

摘要： 本发明提供一种岩样成像方法、装置以及系统。该方法包括：获取待成像的岩样，采用电子显微镜成像系统对所述岩样的目标区域进行成像，在对所述岩样的目标区域进行成像的过程中，通过使用纳米机械探针触压所述岩样的目标区域附近位置，使目标区域与外界形成通路，提升了不导电岩样目标区域的导电性，增加了目标区域的电场稳定性，从而能够获得无畸变的系列切割图像，用于重构得到所述目标区域的三维数字岩心，有效还原了不导电岩样的表面特征。

公开(公告)号：CN105928961B

公开(公告)日：2018-11-13

申请号：CN201610411154.9

申请日：2016-06-13

申请人： 北京工业大学

发明人： 王晋 ,  张跃飞

IPC分类号： G01N23/2204 ,  G01N23/2255 ,  H01J37/20

摘要： 本发明公开一种原位测试样品台和原位测试方法，包括显微镜腔室、透射电子显微镜TEM样品杆、电子束发射枪、二次电子探头、聚焦离子束发射枪、背散射电子探头和电子背散射探头，显微镜腔室的前表面和后表面之间设置有腔室，背散射电子探头、聚焦离子束发射枪穿设于第二侧面上，上表面上穿设有电子束发射枪，第一侧面上穿设有聚焦离子束发射枪，第四侧面上设置有第一法兰孔，第三侧面上设置有第二法兰孔，TEM样品杆安装于第一法兰孔或第二法兰孔。本发明能使聚焦离子束电子束显微镜与透射电镜能结合起来使用，从块体材料切取后能无污染的、无人为因素损伤的直接转移到透射电镜样品台，并结合两者的显微分析功能实现纳米尺度、原子尺度的原位测试分析。

公开(公告)号：CN110361413B

公开(公告)日：2024-10-25

申请号：CN201910229781.4

申请日：2019-03-25

申请人： FEI 公司

发明人： B.L.M.亨德里克森 ,  E.R.基夫特

IPC分类号： G01N23/2255 ,  G01N23/2252 ,  G01N23/2251 ,  G01N23/207 ,  H01J37/26 ,  G01N23/04

摘要： 在透射带电粒子显微镜中研究动态试样。一种使用透射带电粒子显微镜检查动态试样的方法，所述方法包括：用于产生带电粒子束的来源；试样支架，用于将所述试样保持在试样平面内；照明系统，用于将所述束引导到所述试样上；成像系统，用于将通过所述试样透射的带电粒子引导到检测器平面中的检测器上，具体地包括：对所述束进行稀疏化，以便在检测器级别上产生包括子图像分布的图像，所述子图像至少沿选定的扫描路径彼此相互隔离；使用扫描组件在时间间隔Δt期间沿所述扫描路径引起所述图像和所述检测器的相对运动，以便将每个子图像涂抹成所述检测器上的检测条痕，每个这样的条痕在所述时间间隔Δt期间捕获其相关子图像的时间演变。