一种基于指令域与朴素贝叶斯的有效样本提取方法及系统
摘要:
本发明公开了一种基于指令域与朴素贝叶斯的有效样本提取方法及系统,属于数控加工技术领域。方法包括:获取每一刀位点的工艺参数与内部响应数据和外部响应数据的对应描述;基于k近邻实现传感器观测的响应状态划分方法;利用朴素贝叶斯融合多个传感器的状态评价结果并从中提取出“工况‑响应”一致的数据作为有效数据;基于单因素的方差分析原理,构建四个评价级别(优秀、良好、合格、不合格)实现有效样本质量评价;最终可使用高质量的有效样本和智能算法研究工艺系统响应规律。该算法挖掘加工数据中的有效信息,提取的高质量样本数据适用于神经网络等智能算法训练。本发明有理论依据,且简单易实现,具有广泛的适用性。
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