发明公开
- 专利标题: 电压钳位的超结器件及制造方法
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申请号: CN202211122807.3申请日: 2022-09-15
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公开(公告)号: CN115241183A公开(公告)日: 2022-10-25
- 发明人: 赵东艳 , 肖超 , 陈燕宁 , 邵瑾 , 董广智 , 付振 , 刘芳 , 张泉 , 尹强 , 田俊
- 申请人: 北京芯可鉴科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
- 申请人地址: 北京市昌平区双营西路79号院中科云谷园11号楼一层;
- 专利权人: 北京芯可鉴科技有限公司,北京智芯微电子科技有限公司
- 当前专利权人: 北京芯可鉴科技有限公司,北京智芯微电子科技有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市昌平区双营西路79号院中科云谷园11号楼一层;
- 代理机构: 北京润平知识产权代理有限公司
- 代理商 李红
- 主分类号: H01L27/06
- IPC分类号: H01L27/06 ; H01L27/02 ; H01L29/06 ; H01L29/739 ; H01L29/78 ; H01L21/336 ; H01L21/331 ; H01L23/64
摘要:
本申请涉及半导体领域,提供一种电压钳位的超结器件及制造方法。所述超结器件包括有源区和终端区,所述有源区包括源极、栅极和体区,所述终端区包括截止环区,所述终端区集成有平板电容结构和电阻结构,所述平板电容结构与所述电阻结构串联连接构成RC吸收电路;所述RC吸收电路与源极和截止环区相连,用于对超结器件的漏源电压进行电压钳位。本申请在超结器件的终端区集成RC吸收电路,将器件漏源电压钳位在安全电压值范围内,可以减缓器件电压电流振铃,防止器件因过压击穿而损坏;充分利用超结器件终端区芯片面积,不需要额外占用超结器件有源区面积,不会引起超结器件其它参数的退化,提高系统的集成度和可靠性。
公开/授权文献
- CN115241183B 电压钳位的超结器件及制造方法 公开/授权日:2023-01-24
IPC分类: