发明公开
- 专利标题: 一种辐照监督中子探测用的高纯度铌片的制备方法
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申请号: CN202211116321.9申请日: 2022-09-14
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公开(公告)号: CN115466841A公开(公告)日: 2022-12-13
- 发明人: 王战宏 , 王秉熙 , 陈红生 , 张亚军 , 夏春梅 , 丁谦学 , 任志东 , 郭涛 , 李辉 , 王弘昶 , 梅其良 , 矫明 , 李玲 , 黎辉 , 史涛 , 白掌军 , 牟东 , 张伟宁 , 李小平 , 胡瑞升
- 申请人: 宁夏东方钽业股份有限公司 , 上海核工程研究设计院有限公司
- 申请人地址: 宁夏回族自治区石嘴山市大武口冶金路;
- 专利权人: 宁夏东方钽业股份有限公司,上海核工程研究设计院有限公司
- 当前专利权人: 宁夏东方钽业股份有限公司,上海核工程研究设计院股份有限公司
- 当前专利权人地址: 753099 宁夏回族自治区石嘴山市大武口冶金路
- 代理机构: 济南圣达知识产权代理有限公司
- 代理商 邓建国
- 优先权: 2022103849999 20220413 CN
- 主分类号: C22B3/22
- IPC分类号: C22B3/22 ; C22B9/04 ; C22B9/22 ; C22B34/24 ; G01T3/00
摘要:
本发明公开了,涉及铌片制备技术领域,其包括如下步骤:第一步、严格选用矿石,利用萃取设备多次酸洗和反铌萃取;第二步、进行铝热还原、水平电子束,控制杂质元素含量;第三步、进行真空电子束精炼提纯,控制熔炼速度、熔炼真空度、熔炼功率;第四步、对整个过程进行整体过程进行二次污染控制;第五步、采用半成品高纯度铌片作为包覆材料,进行叠轧及包覆轧制工艺进行轧制。本发明在制备过程中,严格控制除钽元素以外,其余残余元素的含量,并控制铌片厚度,使最后制备的高纯度铌片可准确进行1.0MeV快中子的探测。