Invention Grant
- Patent Title: 一种碳化硅籽晶的处理方法和碳化硅晶体的生长方法
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Application No.: CN202211523460.3Application Date: 2022-12-01
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Publication No.: CN115595663BPublication Date: 2023-07-25
- Inventor: 李佳君 , 王蓉 , 皮孝东 , 高万冬 , 沈典宇 , 杨德仁
- Applicant: 浙江大学杭州国际科创中心
- Applicant Address: 浙江省杭州市心北路99号5楼
- Assignee: 浙江大学杭州国际科创中心
- Current Assignee: 浙江大学杭州国际科创中心
- Current Assignee Address: 浙江省杭州市心北路99号5楼
- Agency: 杭州五洲普华专利代理事务所
- Agent 姚宇吉
- Main IPC: C30B29/36
- IPC: C30B29/36 ; C30B33/10 ; C30B33/12 ; C30B23/00

Abstract:
本发明涉及半导体材料领域,特别涉及一种碳化硅籽晶的处理方法和碳化硅晶体的生长方法。通过对碳化硅晶片先后进行碱蒸汽腐蚀和熔融碱腐蚀的方法,使得碳化硅晶片的碳面的基平面位错转化为腐蚀坑,同时获得表面较为平整的碳化硅籽晶,并利用最终获得的碳化硅籽晶进行碳化硅晶体生长。本发明针对碱蒸汽腐蚀后得到的碳化硅晶片继续进行熔融碱腐蚀,熔融碱腐蚀对碳化硅晶片的碳面的腐蚀速度慢,通过控制熔融碱腐蚀的时间,最终形成表面平整的碳化硅籽晶,利用碳化硅籽晶进行碳化硅晶体生长,显露出来的腐蚀坑在晶体生长时受到增强的镜像力的作用,会强制合并显露出来的腐蚀坑,将基平面位错转变为贯穿型刃位错,从而获得低基平面位错密度的晶体。
Public/Granted literature
- CN115595663A 一种碳化硅籽晶的处理方法和碳化硅晶体的生长方法 Public/Granted day:2023-01-13
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