一种工艺质量分析方法、装置及可读存储介质
摘要:
本发明提供了一种工艺质量分析方法、装置及可读存储介质,涉及工艺质量管控技术领域。所述工艺质量分析方法包括:获取多晶硅生产工序中的至少一个工艺参数的运行数据;对所述运行数据进行筛选,获得筛选后的运行数据;根据筛选后的运行数据,对所述多晶硅生产工序进行工艺质量分析,得到工艺质量分析结果;其中,所述工艺质量分析为以下至少一项:过程能力分析;方差分析;试验设计分析;可靠性分析;多变量分析。本发明的方案能够对多晶硅生产工序中的工艺参数进行分析,从而为多晶硅的质量提升奠定基础。
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