发明公开
- 专利标题： 射频组件测试设备及测试方法
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申请号： CN202310077207.8申请日： 2023-02-06
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公开(公告)号： CN116243084A公开(公告)日： 2023-06-09
- 发明人: 刘丙凯 , 韩静文 , 赵瑞华 , 吴立丰 , 孙磊磊 , 祁飞 , 李军凯 , 郝晓博 , 刘瑞丰 , 王二超 , 戎子龙 , 滑国红
- 申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 申请人地址： 河北省石家庄市合作路113号
- 专利权人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 当前专利权人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 当前专利权人地址： 河北省石家庄市合作路113号
- 代理机构： 石家庄国为知识产权事务所
- 代理商 王振珍
- 主分类号： G01R31/00
- IPC分类号： G01R31/00 ; G01R1/04 ; G01R1/067
摘要：
本发明提供了一种射频组件测试设备，包括顺次连接的常温室、低温室、中转室和高温室，其保证了测试的准确性，测试过程避免人工介入，提升了测试效率，适应于全自动的测试需求。本发明还提供一种射频组件测试方法，其过程简单，不需要人工参与，能准确的控制射频组件的测试温度；还能充分兼顾射频组件测试过程中需要保温一定时间和单个射频组件测试时长的关系，提高射频组件的流转效率，继而提升测试效率。
