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公开(公告)号：CN112875290B
公开(公告)日：2022-08-02
申请号：CN202110187012.X
申请日：2021-02-09
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
摘要： 本发明提供了一种产品自动上下料装置及自动测试设备，属于机械设备领域，包括上料机构、测试平台和下料机构，上料机构将放有产品的底托传送至取料工位；测试平台将传送至取料工位的底托移动至测试工位，并将测试的产品随底托传送至下料工位；下料机构将传送至下料工位的底托连同产品从测试平台取走。本发明提供的装置及设备，通过上料机构实现自动上料，通过测试平台将放置有产品的底托送至测试工位，测试后送至下料机构实现自动下料；通过自动对接和自动纠偏，保证高频接头焊接位置的良好一致性，避免低频接头焊接位置一致性差的问题，避免插头对接的失败，提高整个产品测试过程的自动化程度，实现产品的自动测试，降低劳动强度，提高测试效率。
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公开(公告)号：CN112875290A
公开(公告)日：2021-06-01
申请号：CN202110187012.X
申请日：2021-02-09
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
摘要： 本发明提供了一种产品自动上下料装置及自动测试设备，属于机械设备领域，包括上料机构、测试平台和下料机构，上料机构将放有产品的底托传送至取料工位；测试平台将传送至取料工位的底托移动至测试工位，并将测试的产品随底托传送至下料工位；下料机构将传送至下料工位的底托连同产品从测试平台取走。本发明提供的装置及设备，通过上料机构实现自动上料，通过测试平台将放置有产品的底托送至测试工位，测试后送至下料机构实现自动下料；通过自动对接和自动纠偏，保证高频接头焊接位置的良好一致性，避免低频接头焊接位置一致性差的问题，避免插头对接的失败，提高整个产品测试过程的自动化程度，实现产品的自动测试，降低劳动强度，提高测试效率。
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公开(公告)号：CN111039061A
公开(公告)日：2020-04-21
申请号：CN201911374307.7
申请日：2019-12-27
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
IPC分类号： B65H20/04 , B65H23/032 , B65H18/10 , B65H19/26 , B65H16/10
摘要： 本发明提供了一种SMD发料机，属于SMD表面贴装技术领域，供料机构、切断机构、计数机构和中间倒盘机构顺次安装于固定台架上，终料盘机构安装于固定台架上，且与中间倒盘机构对称分设于固定台架的左右两侧，切断机构和计数机构位于中间倒盘机构和终料盘机构之间；供料机构提供具有表面贴装器件的料带，经计数机构计数并向后传送，经计数的料带缠绕到中间倒盘机构上，当经计数的料带到达预设数值后，切断机构切断料带，计数机构反向旋转，将经计数的料带反向传送至终料盘机构上进行缠绕。本发明提供的SMD发料机，集计数、剪断、倒料功能为一体，缠绕到终料盘的料带可直接用于贴片机进行贴片，大大提高了盘料出库的效率，省时省力。
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公开(公告)号：CN113140485B
公开(公告)日：2022-09-20
申请号：CN202110348367.2
申请日：2021-03-31
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
IPC分类号： H01L21/67 , H01L21/677
摘要： 本发明提供了一种晶圆清洗设备，属于半导体清洗技术领域，包括固定架、清洗池、清洗盘、清洗组件、第一驱动组件、第二驱动组件和喷流组件；清洗池设于固定架上；清洗盘转动设于清洗池内，清洗盘用于容置晶圆；清洗组件转动设于固定架上，清洗组件能够进出清洗池，并能够旋转对晶圆进行清洗；第一驱动组件与清洗盘连接，以驱动清洗盘转动；第二驱动组件与清洗组件连接，以驱动清洗组件进出清洗池并能够清洗晶圆；喷流组件设于固定架上，用于向清洗池内喷射液体，以对晶圆进行清洗，并能在清洗完成后对晶圆喷射气体进行烘干。本发明提供的晶圆清洗设备，解决现有技术中对于晶圆清洗效率低下，表面残存的液体不易烘干的问题。
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公开(公告)号：CN112678482A
公开(公告)日：2021-04-20
申请号：CN202011496741.5
申请日：2020-12-17
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
IPC分类号： B65G47/248
摘要： 本发明提供了一种设备翻转装置，属于设备搬运和安装装置技术领域，包括支撑架、转轴、调节组件、拉紧结构，两个支撑架相间隔设置，支撑架上滑动设有转轴座，转轴座沿支撑架的高度方向滑动；转轴用于插入待翻转的设备中，转轴的两端分别转动设于两个转轴座上；调节组件设于支撑架上，且与转轴座接触，调节组件用于推动转轴座升降及固定；拉紧结构设置不少于两组，拉紧结构沿转轴的长度方向相间隔布设，每组拉紧结构设有不少于三个拉紧组件，拉紧组件一端与转轴相连，另一端用于与需要翻转的设备相连，同组的拉紧组件沿转轴圆周方向均匀分布。本发明提供的设备翻转装置，当遇到厂房入口较低等情况时，可将横卧状态送人厂房内的设备顺利翻转直立。
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公开(公告)号：CN118584160A
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202410600224.X
申请日：2024-05-15
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
发明人： 李军凯 , 李晓光 , 吴立丰 , 孙磊磊 , 袁彪 , 刘丙凯 , 常青松 , 郝晓博 , 李占鹏 , 何普 , 杨东旭 , 靳英策 , 安加林 , 樊泽培 , 王凯 , 杨彦锋 , 胡欣媛
摘要： 本发明提供一种探针测试设备的点动功能控制装置。该装置包括：键盘与控制器；键盘与控制器连接，控制器与目标探针测试设备连接；键盘设有速度设置键和方向键；控制器，用于识别用户通过键盘输入的速度设置键和方向键的组合按键操作，并基于速度设置键和方向键的组合按键操作，控制目标探针测试设备按照预设速度向目标方向移动；预设速度由速度设置键指示，目标方向由方向键指示。本发明相比于硬件摇杆控制方式，键盘进行控制能实现目标探针测试设备全方位灵活运动，当需要控制目标探针测试设备移动时，只需要在按压相应的键盘按键。相比于软件按键控制方式，键盘控制比鼠标控制更加精确，能够减少误触的概率。
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公开(公告)号：CN115097228A
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202210164489.0
申请日：2022-02-22
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
摘要： 本发明提供了一种高低温自动测试系统，属于高低温测试技术领域，包括高低温测试单元和自动上下料单元；高低温测试单元包括烘箱、设于烘箱内的测试夹具以及多维取放机构，多维取放机构用于将送入烘箱内料盘上的待测产品移动至测试夹具进行测试，并将测试后的产品取回至料盘上；烘箱的侧面设有供料盘进入的进料门；自动上下料单元包括上下料机构、物料传输机构、进料机构及进料门自动打开机构；上下料机构将料盘送入物料传输机构，进料门自动打开机构将进料门打开，进料机构将料盘经进料门送入烘箱；测试后的产品料盘经进料机构、物料传输机构返回至上下料机构，下料取走。本发明提供的高低温自动测试系统，自动化程度高，测试效率高，测试精度高。
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公开(公告)号：CN118455105A
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN202410758407.4
申请日：2024-06-13
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
摘要： 本发明提供了一种用于芯片分选机的摆臂推料器组合装置，属于芯片分选技术领域，包括：机架、两轴移动机构、顶升推料机构以及升降驱动机构；两轴移动机构设置于所述机架的底板上，具有纵向和横向两个方向的移动自由度；顶升推料机构可随所述两轴移动机构纵横移动，并驱动顶针器上下移动；旋转摆动机构固定于所述机架上，以驱动摆臂在预设角度内摆动；升降驱动机构与旋转摆动机构关联，以驱动摆臂上下运动；摆臂的悬置端设置有吸嘴；吸嘴在所述旋转摆动机构及升降驱动机构的带动下，摘取所述顶针器上的芯片。本发明通过顶升推料机构和旋转摆动机构上下配合调整的组合方式，能够减小摆臂的转动惯量，提高摆臂的稳定性与速度，能够避免对芯片的损坏。
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公开(公告)号：CN113140485A
公开(公告)日：2021-07-20
申请号：CN202110348367.2
申请日：2021-03-31
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
IPC分类号： H01L21/67 , H01L21/677
摘要： 本发明提供了一种晶圆清洗设备，属于半导体清洗技术领域，包括固定架、清洗池、清洗盘、清洗组件、第一驱动组件、第二驱动组件和喷流组件；清洗池设于固定架上；清洗盘转动设于清洗池内，清洗盘用于容置晶圆；清洗组件转动设于固定架上，清洗组件能够进出清洗池，并能够旋转对晶圆进行清洗；第一驱动组件与清洗盘连接，以驱动清洗盘转动；第二驱动组件与清洗组件连接，以驱动清洗组件进出清洗池并能够清洗晶圆；喷流组件设于固定架上，用于向清洗池内喷射液体，以对晶圆进行清洗，并能在清洗完成后对晶圆喷射气体进行烘干。本发明提供的晶圆清洗设备，解决现有技术中对于晶圆清洗效率低下，表面残存的液体不易烘干的问题。
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公开(公告)号：CN118858713A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202411028018.2
申请日：2024-07-30
申请人： 中国电子科技集团公司第十三研究所
发明人： 李晓光 , 李军凯 , 吴立丰 , 赵华 , 刘丙凯 , 宋学峰 , 孙磊磊 , 庞克俭 , 杨东旭 , 刘瑞丰 , 何普 , 崔贝贝 , 安加林 , 肖宁 , 霍现荣 , 魏少伟 , 杨建春
摘要： 本发明提供了一种移动式探针操作摇杆机构，属于半导体射频探针测试技术领域，包括操作面板、摇杆以及磁吸块，摇杆设置于所述操作面板上；摇杆和操作面板构成摇杆开关；磁吸块设置于操作面板连接；磁吸块上设置有磁吸开关，通过磁吸开关产生磁场或消磁，以使操作面板和所述摇杆随所述磁吸块移动至不同的测试位置。本发明提供的移动式探针操作摇杆机构，利用磁吸开关的磁性改变可以将摇杆机构移动到测试板的任意位置，不需要打孔或设置其他的夹持工具，提高了操作的便捷性，从而提高了整体的使用效率。
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