发明公开
- 专利标题: 一种阻抗线宽的测量方法、计算机可读存储介质
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申请号: CN202310263278.7申请日: 2023-03-17
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公开(公告)号: CN116500414A公开(公告)日: 2023-07-28
- 发明人: 李凯 , 张德金 , 王嘉敏
- 申请人: 广州广合科技股份有限公司
- 申请人地址: 广东省广州市保税区保盈南路22号
- 专利权人: 广州广合科技股份有限公司
- 当前专利权人: 广州广合科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省广州市保税区保盈南路22号
- 代理机构: 广州市时代知识产权代理事务所
- 代理商 陆帅
- 主分类号: G01R31/28
- IPC分类号: G01R31/28 ; G06F30/39 ; G01R27/02 ; G06F115/12
摘要:
本发明涉及电路板的生产技术领域,具体涉及一种阻抗线宽的测量方法、计算机可读存储介质。该测量方法,包括S1、制前辅助制造自动化设备获取待测量的阻抗线的阻抗信息;S2、计算机辅助制造软件通过自动化脚本获取制前辅助制造自动化设备上的阻抗信息,自动化脚本根据阻抗信息自动生成自动线宽测量仪程式;S3、生产设备根据自动线宽测量仪程式测量电路板上的阻抗线宽实际值;S4、将自动线宽测量仪程式生成的阻抗线宽标准值和生产设备测量的阻抗线宽实际值生成报表,根据比较值判断阻抗电路板的阻抗线宽是否符合要求,该阻抗线宽的测量方法能够直接、准确地测量出电路板上的阻抗线宽实际值,利于提高电路板的生产质量,也利于提高电路板的精密度。