发明公开
- 专利标题: 一种面向磁瓦缺陷的目标检测方法
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申请号: CN202310878172.8申请日: 2023-07-18
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公开(公告)号: CN117007610A公开(公告)日: 2023-11-07
- 发明人: 李旭东 , 魏金雷 , 潘心冰 , 何彬彬 , 伊文超 , 朱利霞 , 张敏
- 申请人: 浪潮云信息技术股份公司
- 申请人地址: 山东省济南市高新区浪潮路1036号浪潮科技园S01号楼
- 专利权人: 浪潮云信息技术股份公司
- 当前专利权人: 浪潮云信息技术股份公司
- 当前专利权人地址: 山东省济南市高新区浪潮路1036号浪潮科技园S01号楼
- 代理机构: 济南信达专利事务所有限公司
- 代理商 姜鹏
- 主分类号: G01N21/95
- IPC分类号: G01N21/95 ; G06T7/00 ; G06V10/774 ; G06V10/82 ; G06V10/40 ; G06N3/0464 ; G06N3/048 ; G06N3/08 ; G01N21/88
摘要:
本发明涉及计算机视觉技术领域,具体为一种面向磁瓦缺陷的目标检测方法,包括以下步骤:对磁瓦进行拍照采集图像数据;根据数据的特点进行预处理;将步骤S2输出的结果输入添加了解耦头的预测部分;根据预测结果的损失对模型进行参数优化;选取在测试集表现最好的模型进行目标检测;有益效果为:本发明提出的面向磁瓦缺陷的目标检测方法,对磁瓦进行拍照采集图像数据,根据缺陷以及缺陷类别进行真实框以及类别的标注。之后对其进行训练集,验证集以及测试集的划分。之后将划分好的训练集输入到Yolov5检测模型的backbone与neck部分,进行特征提取与采样。