发明公开
- 专利标题: 定位透射检测设备的接收探测射线的探测器的系统和方法
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申请号: CN202311774575.4申请日: 2023-12-21
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公开(公告)号: CN117761790A公开(公告)日: 2024-03-26
- 发明人: 冯顺昌 , 宗春光 , 史俊平 , 喻卫丰 , 刘必成 , 宋全伟 , 樊旭平 , 迟豪杰 , 刘磊 , 孟辉 , 王强强 , 郭以伟 , 李洪旗 , 谭惠文
- 申请人: 同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 专利权人: 同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人: 同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 代理机构: 中国贸促会专利商标事务所有限公司
- 代理商 李辉
- 主分类号: G01V5/22
- IPC分类号: G01V5/22 ; G01C15/00
摘要:
本发明涉及一种定位透射检测设备的接收探测射线的探测器的系统和方法,该系统包括:射线位置检测显示部,被配置成检测和显示透射检测设备的射线源发射的射线束面的位置,射线束面在与射线源的射线发射方向相对的第一平面内的投影为直线;可见光发射部件,被配置成发射在第一平面内的投影为直线的可见光束面;调节装置,与可见光发射部件连接,并被配置成调节可见光发射部件的可见光发射方向或沿垂直于可见光束面的位置,以将可见光束面调整至射线位置检测显示部显示的射线束面的位置,以便于将可见光束面作为基准面布置或调整探测器,以使探测器可接收射线源发射的射线。