安全检查系统
    3.
    发明公开
    安全检查系统 审中-实审

    公开(公告)号:CN116297559A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202211698326.7

    申请日:2022-12-28

    IPC分类号: G01N23/04

    摘要: 本申请提供一种安全检查系统,其包括:可移动载体;承载装置,可分离地设置于可移动载体上,并在与可移动载体分离后,布置于可移动载体的第一方向的一侧,使得可移动载体一侧具有供被检对象通过的检测通道;扫描系统,用于对通过检测通道的被检对象进行扫描检测,并包括第一扫描装置,第一扫描装置包括相互配合的第一射线源和第一透射探测器,第一射线源和第一透射探测器中的一个设置于可移动载体上,另一个设置于承载装置上;和连接装置,用于在承载装置与可移动载体分离后,连接可移动载体和布置于可移动载体第一方向一侧的承载装置,使得第一射线源和第一透射探测器彼此共面。这样,可提高检测准确性。

    校正扫描图像的方法和装置以及图像扫描系统

    公开(公告)号:CN113077391A

    公开(公告)日:2021-07-06

    申请号:CN202010711447.5

    申请日:2020-07-22

    IPC分类号: G06T5/00

    摘要: 本公开提出一种校正扫描图像的方法和装置以及图像扫描系统,涉及图像扫描领域。该方法包括:获取被扫描对象的扫描图像;从所述扫描图像中检测一个或多个参照物;根据预设的参照物的标准参数,确定每个参照物的变形参数;根据所述一个或多个参照物的变形参数,对所述扫描图像进行校正。通过从扫描图像中检测参照物,根据参照物的变形参数,对扫描图像进行校正,以改善扫描图像变形的问题,提高检测效果。

    检测系统
    6.
    发明公开
    检测系统 审中-实审

    公开(公告)号:CN117555034A

    公开(公告)日:2024-02-13

    申请号:CN202311829691.1

    申请日:2023-12-28

    IPC分类号: G01V5/22

    摘要: 本发明涉及一种检测系统,包括第一射线源、第二射线源、第一探测器、第二探测器、第三探测器和第四探测器,第一射线源和第二射线源均被配置为向被检物发射射线,第一探测器设置于被检物的远离第一射线源的一侧,第一探测器被配置为接收第一射线源发射的穿透被检物的射线,第二探测器设置于被检物的远离第二射线源的一侧,第二探测器被配置为接收第二射线源发射的穿透被检物的射线,第三探测器与第一射线源设置于被检物的同侧,第三探测器被配置为接收第一射线源发射的经被检物散射后的射线,第四探测器与第二射线源设置于被检物的同侧,第四探测器被配置为接收第二射线源发射的经被检物散射后的射线。

    对象扫描装置
    7.
    发明公开
    对象扫描装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN117191833A

    公开(公告)日:2023-12-08

    申请号:CN202311047705.4

    申请日:2023-08-18

    摘要: 提供了一种对象扫描装置,涉及射线扫描领域。该对象扫描装置包括:对象识别模块,被配置为在扫描前预先识别被检对象的尺寸信息;控制模块,被配置为根据所述尺寸信息确定移动设备的移动行程;所述移动设备,与所述背散射成像设备连接,被配置为在所述移动行程内带动所述背散射成像设备沿预定方向移动;所述背散射成像设备,被配置为在沿所述预定方向移动过程中,扫描所述被检对象的底部,以获得背散射图像。能够兼容多种类别或尺寸的被检对象,均可进行底部扫描,可以根据背散射图像实现安全检查、物体识别、材料分析和无损检测等目的,具有较广的使用范围。

    用于检测m层结构被检物的背散射检查装置

    公开(公告)号:CN115855990B

    公开(公告)日:2023-04-28

    申请号:CN202310112882.X

    申请日:2023-02-15

    IPC分类号: G01N23/20008 G01N23/203

    摘要: 本发明提供了一种用于检测m层结构被检物的背散射检查装置,应用于探测技术领域,m层结构被检物至少包括外层结构体和内层结构体,m为大于等于2的整数,背散射检查装置包括射线发生器、n个探测器和屏蔽组件,射线发生器设于外层结构体的上方,被构造为向m层结构被检物发射入射射线;n个探测器设于外层结构体的上方,且位于入射射线的周向方向上,以接收入射射线射在内层结构体上散射的内层散射射线,n为大于等于1的整数;屏蔽组件被构造为至少部分包围探测器,以遮挡部分入射射线射至探测器,和遮挡入射射线射在外层结构体上散射的外层散射射线射至探测器。背散射检查装置具有防干扰能力强,可以实现精准检查的优点。

    背散射成像系统、扫描检查系统和背散射图像成像方法

    公开(公告)号:CN109142404A

    公开(公告)日:2019-01-04

    申请号:CN201811291946.2

    申请日:2018-11-01

    IPC分类号: G01N23/203

    CPC分类号: G01N23/203

    摘要: 本发明公开了一种背散射成像系统、扫描检查系统和背散射图像成像方法。背散射成像系统包括:背散射线源,背散射线源被设置为执行扫描时具有无扫描光束发出的第一扫描状态和发出扫描光束的第二扫描状态;背散探测器,背散探测器在背散射成像系统的背散射线源处于第一扫描状态下探测第一背散射信号,在背散射线源处于第二扫描状态下探测第二背散射信号;控制装置,与背散探测器信号连接,被设置为用根据第一背散射信号形成的修正信号修正第二背散射信号以得到修正背散射信号,并根据修正背散射信号形成图形信息;和成像装置,与控制装置信号连接,根据图形信息生成第二扫描状态下的背散射图像。本发明获得的背散射图像更加清晰。