发明公开
- 专利标题: 用于测试集成电路的插座装置
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申请号: CN202311637090.0申请日: 2023-12-01
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公开(公告)号: CN118150867A公开(公告)日: 2024-06-07
- 发明人: 黄东源 , 黄路建载 , 黄裁白
- 申请人: 黄东源 , 黄路建载 , 黄裁白 , 惠康有限公司
- 申请人地址: 韩国京畿道城南市; ; ;
- 专利权人: 黄东源,黄路建载,黄裁白,惠康有限公司
- 当前专利权人: 黄东源,黄路建载,黄裁白,惠康有限公司
- 当前专利权人地址: 韩国京畿道城南市; ; ;
- 代理机构: 北京友联知识产权代理有限公司
- 代理商 尚志峰; 汪海屏
- 优先权: 10-2022-0167711 20221205 KR
- 主分类号: G01R1/04
- IPC分类号: G01R1/04 ; H05K7/20 ; H01R13/516 ; G01R31/28
摘要:
本发明涉及用于测试集成电路的插座装置,包括接头模块,包括多个接头,安装有集成电路,用于电连接集成电路的端子与PCB的端子;以及推杆模块,具有闩锁,安装在接头模块的上部,对集成电路施压,推杆模块包括:引线框架,可旋转地安装有闩锁;加压部,具有平行的两个浮动铰链轴并组装在引线框架上,相对于引线框架弹性支撑,从而能够上下移动,对集成电路弹性施压;第一凸轮轴及第二凸轮轴,分别设置在浮动铰链轴上,根据旋转角度调节加压部的上下高度;手柄,与第一凸轮轴可旋转地固定;杠杆,与第二凸轮轴可旋转地固定;以及连杆,两端部可自由旋转地连接到手柄和杠杆。