发明公开
- 专利标题: 点触式导线导通测试装置及测试方法
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申请号: CN202410547415.4申请日: 2024-05-06
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公开(公告)号: CN118465625A公开(公告)日: 2024-08-09
- 发明人: 郝攀 , 王冬梅 , 李晓欢 , 孟少华 , 刘远 , 王旭 , 张诚 , 池桐 , 任飞扬 , 张爽 , 王伟 , 刘月 , 梁园园
- 申请人: 北京卫星环境工程研究所
- 申请人地址: 北京市海淀区友谊路104号
- 专利权人: 北京卫星环境工程研究所
- 当前专利权人: 北京卫星环境工程研究所
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区友谊路104号
- 代理机构: 北京志霖恒远知识产权代理有限公司
- 代理商 郭栋梁
- 主分类号: G01R31/58
- IPC分类号: G01R31/58 ; G01R31/54 ; G01R27/02
摘要:
本发明提供了一种点触式导线导通测试装置,包括有导通及阻值测试模块、存储模块、显示及语音模块以及电源模块;所述显示及语音模块与导通及阻值测试模块连接,所述存储模块与导通及阻值测试模块连接,所述导通及阻值测试模块设有单片机、矩阵开关以及多个不同针数的输入端插座,输入端插座用于与被测插头连接,单片机用于依据矩阵开关在所述导线与触点板接触时是否接通高电平,以确定导线的测试信息;测试信息包括有所述导线的编号信息及其导通结果;当对被测插头进行导线导通及阻值测试时,依次将被测插头的导线与接入高电平的触点板接触,单片机根据所述矩阵开关是否接通至高电平以确定对应的导线是否导通。如此,本发明能够保证测试准确性的同时,提升电装操作的效率。