本发明提供一种集成电路测试方法及系统，涉及集成电路测试技术领域，包括构建集成电路测试领域知识图谱，利用消息传递机制提取电路的结构和功能表示，将提取的结构和功能表示作为特征向量输入预先构建的测试用例生成模型，自动生成满足测试需求和约束条件的测试用例；将生成的测试用例输入支持多故障模型的仿真引擎，预定位仿真数据中的第一候选故障区域；对集成电路进行硬件测试，采用谱系分析方法计算硬件测试数据与仿真数据的差异，定位硬件测试数据中的第二候选故障区域，综合第一候选故障区域和第二候选故障区域，确定最终故障区域，并输出故障诊断建议。