发明授权
- 专利标题: 采用V型槽介质隔离工艺的体硅加工方法
- 专利标题(英): Body-silicon processing method using V-groove medium isolation technology
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申请号: CN03143278.6申请日: 2003-09-05
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公开(公告)号: CN1241044C公开(公告)日: 2006-02-08
- 发明人: 吕苗 , 何洪涛 , 胡小东
- 申请人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 申请人地址: 河北省石家庄市合作路113号38分箱
- 专利权人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 当前专利权人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 当前专利权人地址: 河北省石家庄市合作路113号38分箱
- 主分类号: G02B6/35
- IPC分类号: G02B6/35 ; G02B26/08 ; H01L21/00
摘要:
本发明公开了一种采用V型槽介质隔离技术的体硅加工方法,涉及微电子机械系统领域中的一种微电子机械系统器件结构的制造。它采用电感耦合干法刻蚀工艺在硅片上制造出V型槽,采用介质淀积二氧化硅填充此V型槽,隔离槽深度可以达到10~200微米,远远深于通常的半导体介质隔离技术,适合于制造出在机械上连接,电学上隔离的微机械结构。本发明还具有工艺简单、可重复性好的优点。本发明适合于电容式微加速度计、微陀螺、光开关、微机械微波开关等多种微机械器件的制作。
公开/授权文献
- CN1488965A 采用V型槽介质隔离工艺的体硅加工方法 公开/授权日:2004-04-14