实用新型
CN212463313U 一种适用于核与辐射环境的折反射全景成像系统
失效 - 权利终止
- 专利标题: 一种适用于核与辐射环境的折反射全景成像系统
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申请号: CN202021008775.0申请日: 2020-06-04
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公开(公告)号: CN212463313U公开(公告)日: 2021-02-02
- 发明人: 田凤莲 , 张静 , 刘满禄 , 张华 , 王姮 , 张敦凤 , 刘冉 , 霍建文
- 申请人: 西南科技大学
- 申请人地址: 四川省绵阳市涪城区青龙大道中段59号
- 专利权人: 西南科技大学
- 当前专利权人: 西南科技大学
- 当前专利权人地址: 四川省绵阳市涪城区青龙大道中段59号
- 代理机构: 成都正华专利代理事务所
- 代理商 李蕊
- 主分类号: H04N5/225
- IPC分类号: H04N5/225 ; G02B17/08
摘要:
本实用新型公开了一种适用于核与辐射环境的折反射全景成像系统,其包括透光面罩,透光面罩的上端设置有第一屏蔽层,透光面罩的下端设置有第二屏蔽层;第一屏蔽层的下表面设置有双曲面反射镜;第二屏蔽层上设置有用于放置成像器的存放腔,存放腔的上端设置有可调镜头;存放腔的下端设置有斜向的线缆通道。本实用新型通过第一屏蔽层屏蔽来自正上方的辐射,通过第二屏蔽层屏蔽来自前后左右和下方的辐射,可以有效将环境辐射与成像器进行隔离,避免成像器受辐射影响。同时本实用新型通过双曲面反射镜将四周环境反射至成像器中,使得本系统可以获取360°的图像,保证了开阔的全局视野,提高了成像效率。