发明授权
EP0105439B1 Spektrometerobjektiv mit parallelen Objektiv- und Spektrometerfeldern für die Potentialmesstechnik
失效
用于潜在测量技术的平行目标和光谱仪场景的光谱仪目标
- 专利标题： Spektrometerobjektiv mit parallelen Objektiv- und Spektrometerfeldern für die Potentialmesstechnik
- 专利标题（英）： Spectrometer objective with parallel objective and spectrometer fields for use in the potential measuring technique
- 专利标题（中）： 用于潜在测量技术的平行目标和光谱仪场景的光谱仪目标
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申请号： EP83109565.8申请日： 1983-09-26
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公开(公告)号： EP0105439B1公开(公告)日： 1989-05-03
- 发明人: Plies, Erich, Dr. , Weyl, Reinhard, Dr. , Lischke, Burkhard, Prof., Dr.
- 申请人： SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
- 申请人地址： Wittelsbacherplatz 2 80333 München DE
- 专利权人： SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
- 当前专利权人： SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT
- 当前专利权人地址： Wittelsbacherplatz 2 80333 München DE
- 优先权： DE3236273 19820930
- 主分类号： H01J37/05
- IPC分类号： H01J37/05 ; H01J37/252 ; H01J37/10
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