发明专利
JP2018063744A 光ディスクの検査方法
审中-公开
- 专利标题: 光ディスクの検査方法
- 专利标题(英): JP2018063744A - Inspection method of optical disk
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申请号: JP2017009771申请日: 2017-01-23
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公开(公告)号: JP2018063744A公开(公告)日: 2018-04-19
- 发明人: 宮下 晴旬 , 日野 泰守 , 南野 順一 , 甲斐 勤
- 申请人: パナソニックIPマネジメント株式会社
- 申请人地址: 大阪府大阪市中央区城見2丁目1番61号
- 专利权人: パナソニックIPマネジメント株式会社
- 当前专利权人: パナソニックIPマネジメント株式会社
- 当前专利权人地址: 大阪府大阪市中央区城見2丁目1番61号
- 代理商 新居 広守; 寺谷 英作; 道坂 伸一
- 优先权: JP2016201195 2016-10-12
- 主分类号: G11B20/10
- IPC分类号: G11B20/10 ; G11B20/18 ; G11B7/004
摘要:
【課題】光ディスクがデータを正常に記録できる状態であるかどうかを高い精度で検査することができる検査方法を提供する。 【解決手段】記録型の光ディスク80の検査方法は、レーザ光を記録層に集光する集光ステップ(S11)と、記録層で反射したレーザ光に応じたデータ信号を取得する取得ステップ(S12)とを含む。検査方法は、取得されたデータ信号の信号レベルが所定値よりも低くなる第一期間をECCブロック82に対応する第二期間ごとに特定する(S13)ことにより、光ディスク80の異常の有無を判定する判定ステップ(S14〜S16)と、判定結果を出力する出力ステップ(S17)とを含む。 【選択図】図7
公开/授权文献
- JP6832524B2 光ディスクの検査方法 公开/授权日:2021-02-24
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