Invention Patent
- Patent Title: レベル計測方法及びレベル計測装置
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Application No.: JP2016171945Application Date: 2016-09-02
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Publication No.: JP6729202B2Publication Date: 2020-07-22
- Inventor: 木下 貴博 , 杉橋 敦史 , 小野 慎平 , 田村 鉄平
- Applicant: 日本製鉄株式会社
- Applicant Address: 東京都千代田区丸の内二丁目6番1号
- Assignee: 日本製鉄株式会社
- Current Assignee: 日本製鉄株式会社
- Current Assignee Address: 東京都千代田区丸の内二丁目6番1号
- Agent 吉田 正義; 今枝 弘充; 梅村 裕明; 吉田 安子
- Main IPC: C21C5/46
- IPC: C21C5/46 ; F27D21/00 ; G01F23/284
Public/Granted literature
- JP2018036224A レベル計測方法及びレベル計測装置 Public/Granted day:2018-03-08
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